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參數(shù)資料
| 型號： | COLDFIRE2UM |
| 英文描述： | Version 2/2M ColdFire Core Processor User＇s Manual |
| 中文描述： | 版本2/2M ColdFire內(nèi)核的處理器用戶手冊 |
| 文件頁數(shù)： | 185/253頁 |
| 文件大小： | 1762K |
| 代理商： | COLDFIRE2UM |
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Test Operation
8-6
ColdFire2/2M User’s Manual
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Go to: www.freescale.com
MOTOROLA
Table 8-4. I/O TEST RING CHAIN 1 (TRSDI[1]/TRSDO[1])
8.3 INTEGRATED MEMORY TESTING
A test mode is provided to test embedded SRAM, ROM, and/or ICACHE arrays that connect
directly to the ColdFire2/2M. All integrated memories are tested by placing the ColdFire2/
2M into test mode (TEST_MODE = 1) and performing reads and writes via the test bus and
system-bus. These busses allow external access to the integrated memories via functional
paths. The path from the test/system bus to the memory arrays is a pipelined path. The test
bus input signals serve as multiplexor select signals to enable the correct path from
MRDATA and TEST_ADDR to a particular array, and from the particular array out through
MWDATA. During test mode, ColdFire2/2M is idle and does not execute code.
The following section details the signal descriptions, test methodology, and data transfer
mechanisms.
8.3.1 Test Bus Signal Description
This section describes the ColdFire2/2M signals dedicated to testing the integrated
memories. Additional signals are required to be either asserted or negated during memory
test and are described here also. If all three types of integrated memories are used; ie.
CORE INPUT
CORE OUTPUT
CELL #
(2 REGS/
CELL)
HEAD OF I/O
TEST RING
CHAIN 1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
CORE INPUT
CORE OUTPUT
CELL #
(W REGS/
CELL)
23
NC
mfrzb
TEST_CTRL
MADDR[18]
MRDATA[0]
ROM_SZ[0]
ROM_SZ[1]
MRSTB
DSCLK
IACK_68k
TEST_MODE
TEST_KTA
TEST_ADDR[2]
TEST_ADDR[3]
TEST_ADDR[4]
TEST_ADDR[5]
TEST_ADDR[4]
TEST_ADDR[7]
TEST_ADDR[8]
TEST_ADDR[9]
TEST_ADDR[10]
TEST_ADDR[11]
TEST_ADDR[12]
TEST_ADDR[13]
TEST_ADDR[14]
MARBC[0]
MARBC[1]
PST[3]
DDATA[3]
DSO
MRW
MTT[0]
MTT[1]
MADDR[5]
MADDR[6]
MADDR[7]
MADDR[8]
MADDR[9]
MADDR10]
MADDR[11]
MADDR[12]
MADDR[13]
MADDR[14]
MADDR[15]
MADDR[16]
MADDR[17]
TEST_RD
TEST_DATA_RD
TEST_RAM_RD
TEST_ROM_RD
ROM_VLD
TEST_IVLD_INH
NC
NC
TEST_ITAG_WRT
TEST_DATA_WRT
TEST_RAM_WRT
MTAB
BKPTB
NC
NC
NC
NC
NC
NC
NC
NC
MADDR[19]
MADDR[20]
MADDR[21]
MADDR[22]
MADDR[23]
MADDR[24]
MADDR[25]
MADDR[26]
MADDR[27]
MADDR[28]
MADDR[29]
MADDR[30]
MADDR[31]
MADDR[0]
MADDR[1]
MADDR[2]
MADDR[3]
MADDR[4]
MSIZ[0]
MSIZ[1]
MTSB
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
TAIL OF I/O
TEST RING
CHAIN 1
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| COLDFIRE2UMAD | Version 2/2M ColdFire Core Processor User＇s Manual Addendum |
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