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參數(shù)資料
| 型號： | COLDFIRE2UM |
| 英文描述： | Version 2/2M ColdFire Core Processor User＇s Manual |
| 中文描述： | 版本2/2M ColdFire內(nèi)核的處理器用戶手冊 |
| 文件頁數(shù)： | 184/253頁 |
| 文件大?。?/td> | 1762K |
| 代理商： | COLDFIRE2UM |
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Test Operation
MOTOROLA
ColdFire2/2M User’s Manual
For More Information On This Product,
Go to: www.freescale.com
8-5
The I/O test ring behaves in the same manner for the ASIC logic as it does for ColdFire2/
2M.
Table 8-2
lists the I/O test ring control signal configurations for the different modes of
testing.
Table 8-3
and
Table 8-4
list each signal, which I/O test ring chain it is part of, and
how deep (how many cells from TRSDI[1:0] it is in the chain. Note that an X means that the
signal needs to be driven, however high or low is optional. The actual value is a don’t care.
* Needs to driven high or low. The actual value is a don’t care.
Table 8-2. I/O TEST RING MODE CONFIGURATioNS
LOAD
SCAN
ColdFire2/2M
1
0
ON
1
*X
SCAN
ASIC
0
0
ON
1
*X
SHIFT OUT
FUNCTIONAL
(NON-SCAN)
*X
*X
*X
0
*X
CORE_TEST
TR_SE
TRCLK
TR_MODE
TR_SDI[1:0]
*X
1
ON
*X
*X
1
ON
*X
*X
APPLY DATA
Table 8-3. I/O TEST RING CHAIN 0 (TRSDI[0]/TRSDO[0])
CORE INPUT
CORE OUTPUT
CELL #
(2 REGS/
CELL)
HEAD OF I/O
TEST RING
CHAIN 0
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
CORE INPUT CORE OUTPUT
CELL #
(2 REGS/
CELL)
23
MRDATA_IE
MWDATA_OE
MRDATA[21]
MWDATA[21]
MRDATA[0]
MRDATA[1]
MRDATA[2]
MRDATA[3]
MRDATA[4]
MRDATA[5]
MRDATA[6]
MRDATA[7]
MRDATA[8]
MRDATA[9]
MRDATA[10]
MRDATA[11]
MRDATA[12]
MRDATA[13]
MRDATA[14]
MRDATA[15]
MRDATA[16]
MRDATA[17]
MRDATA[18]
MRDATA[19]
MRDATA[20]
MWDATA[0]
MWDATA[1]
MWDATA[2]
MWDATA[3]
MWDATA[4]
MWDATA[5]
MWDATA[6]
MWDATA[7]
MWDATA[8]
MWDATA[9]
MWDATA[10]
MWDATA[11]
MWDATA[12]
MWDATA[13]
MWDATA[14]
MWDATA[15]
MWDATA[16]
MWDATA[17]
MWDATA[18]
MWDATA[19]
MWDATA[20]
MRDATA[22]
MRDATA[23]
MRDATA[24]
MRDATA[25]
MRDATA[26]
MRDATA[27]
MRDATA[28]
MRDATA[29]
MRDATA[30]
MRDATA[31]
MTEAB
IPLB[0]
IPLB[1]
IPLB2]
ICH_SZ[0]
ICH_SZ[1]
ICH_SZ[2]
SRAM_SZ[0]
SRAM_SZ[1]
SRAM_SZ[2]
ROM_SZ[2]
MWDATA[22]
MWDATA[23]
MWDATA[24]
MWDATA[25]
MWDATA[26]
MWDATA[27]
MWDATA[28]
MWDATA[29]
MWDATA[30]
MWDATA[31]
MKILLB
MTM[0]
MTM[1]
MTM[2]
PST[0]
PST[1]
PST[2]
DDATA[0]
DDATA[1]
DDATA[2]
TEST_RHIT
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
TAIL OF I/O
TEST RING
CHAIN 0
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| COLDFIRE2UMAD | Version 2/2M ColdFire Core Processor User＇s Manual Addendum |
| COLDFIRE3UM | Version 3 ColdFire Core User＇s Manual |
| COM150A | 100V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package |
| COM2017P | UART |
| COM2502P | UART |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
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| COLD-PACK | 制造商:NTE Electronics 功能描述: |
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