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參數(shù)資料
| 型號： | MC92604ZT |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 100/122頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC TXRX ETH DUAL GIG 196-MAPBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 630 |
| 類型： | 收發(fā)器 |
| 驅(qū)動器/接收器數(shù)： | 2/2 |
| 規(guī)程： | 千兆位以太網(wǎng) |
| 電源電壓： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 196-LBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 196-MAPBGA（15x15） |
| 包裝： | 托盤 |
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Test Features
MC92604 Dual Gigabit Ethernet Transceiver Reference Manual, Rev. 1
Freescale Semiconductor
6-3
6.1.5
Device Identification Register (0x0281F01D)
Figure 6-2 shows the format for the device identification register. All bits of the register are read-only.
6.1.6
Performance
The performance and electrical properties of the TAP controller, boundary scan, and JTAG inputs and
outputs, are described in Chapter 7, “Electrical Specifications and Characteristics.”
6.2
System Accessible Test Modes
System accessible test modes are selected through the TST_0, TST_1, and XCVR_A_LBE signals.
Table 6-4 shows test mode state selection.
31
28 27
12 11
0
R
VERSION
PART NUMBER
MANUFACTURER ID
W
Reset 0
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
Figure 6-2. Device Identification Register
Table 6-4. Test Mode State Selection
TST_1
TST_0
XCVR_A_LBE
Description
Low
Normal operation. No test mode enabled.
Low
High1
1 If TST_1 and TST_0 are both low, each channel is controlled by its own LBE (channel A = XCVR_A_LBE,
channel B = XCVR_B_LBE). If either TST_1 or TST_0 is high, then XCVR_A_LBE is used to select BIST
test modes for all channels, and XCVR_B_LBE is ignored.
Internal loopback system test mode
Low
High
Low
System BIST sequence—external loopback—no idles inserted
Low
High
System BIST sequence—external loopback—with idles inserted
High
Low
System BIST sequence—internal loopback—with idles inserted
High
Low
High
Reserved
High
Low
Reserved
High
Reserved
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