參數(shù)資料
型號： XRT94L33IB-L
廠商： Exar Corporation
文件頁數(shù)： 299/465頁
文件大小： 0K
描述： IC MAPPER DS3/E3/STS-1 504TBGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 24
應(yīng)用： 網(wǎng)絡(luò)切換
接口： 總線
電源電壓： 3.14 V ~ 3.47 V
封裝/外殼： 504-LBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 504-TBGA（35x35）
包裝： 托盤
安裝類型： 表面貼裝
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XRT94L33
xr
Rev.1.2.0.
3-CHANNEL DS3/E3/STS-1 TO STS-3/STM-1 MAPPER IC DATA SHEET
368
Note:
The Receive STS-3 TOH Processor block will indicate that it is generating this interrupt by toggling the “INT*”
output pin “l(fā)ow” and by setting the “Change of SD Defect Condition Interrupt Status” bit to “1”, as depicted
below.
Receive STS-3 Transport Interrupt Status Register – Byte 0 (Address = 0x110B)
BIT 7
BIT 6
BIT 5
BIT 4
BIT 3
BIT 2
BIT 1
BIT 0
Change of
SF Defect
Condition
Interrupt
Status
Change of
SD Defect
Condition
Interrupt
Status
Detection of
REI-L Error
Interrupt
Status
Detection of
B2 Byte
Error
Interrupt
Status
Detection of
B1 Byte
Error
Interrupt
Status
Change of
LOF Defect
Condition
Interrupt
Status
Change of
SEF Defect
Condition
Interrupt
Status
Change of
LOS Defect
Condition
Interrupt
Status
RUR
0
1
0
It will set Bit 3 (SD Defect Declared), within the “Receive STS-3 Transport Status Register – Byte 0” to
“1”, as depicted below.
Receive STS-3 Transport Status Register – Byte 0 (Address = 0x1107)
BIT 7
BIT 6
BIT 5
BIT 4
BIT 3
BIT 2
BIT 1
BIT 0
RDI-L
Defect
Declared
S1 Byte
Unstable
Defect
Declared
K1, K2 Byte
Unstable
Defect
Declared
SF Defect
Declared
SD Defect
Declared
LOF Defect
Declared
SEF Defect
Declared
LOS Defect
Declared
R/O
0
1
0
2.3.1.13.3
The SD (Signal Degrade) Defect Clearance Criteria
The XRT94L33 permits the user to specify the following two parameters to define the SD Defect Clearance
criteria.
The maximum number of B2 errors (e.g., a B2 byte error-threshold) accumulated over a given “SD Defect
Clear Monitor” time period.
The length of this “SD Defect Clear Monitor” time period.
Once the user defines these parameters, then the Receive STS-3 TOH Processor block will begin to count
the cumulative number of B2 byte errors that it detects within a “sliding window” of time. The length of this
“sliding window of time” is dictated by the user-defined “SD Defect Clear Monitor” time period.
If the Receive STS-3 TOH Processor block is currently declaring the SD Defect condition, and if continues to
detects more than the “SD Defect Clear B2 error threshold” number of B2 errors; within the “SD Defect Clear
Monitor” of time, then it will NOT clear the SD defect condition. Conversely, if the Receive STS-3 TOH
Processor block detects less than the “SD Defect Clear B2 byte error threshold” number of B2 byte errors,
within the “SD Defect Clear Monitor” period of time, then it will clear the SD defect condition.
Specifying the “B2 Byte Error Threshold” for Clearing the SD Defect Condition
The user can specify the “SD Defect Clear B2 Byte Error Threshold” by writing the appropriate value into the
“Receive STS-3 Transport – Receive SD Clear Threshold – Byte 1 and Byte 0” registers, as depicted below.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
XRT94L43IB-F IC MAPPER SONET/SDH OC12 516BGA
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XRT94L43 制造商:EXAR 制造商全稱:EXAR 功能描述:SONET/SDH STS-12/STM-4 TO E3/DS3/STS-1 MAPPER/DEMAPPER
XRT94L43_06 制造商:EXAR 制造商全稱:EXAR 功能描述:SONET/SDH OC-12 TO 12XDS3/E3 MAPPER
XRT94L43A 制造商:EXAR 制造商全稱:EXAR 功能描述:SONET/SDH OC-12 TO 12XDS3/E3 MAPPER
XRT94L43ES-L03 功能描述:界面開發(fā)工具 Eval System for XRT94L43 Series RoHS:否 制造商:Bourns 產(chǎn)品:Evaluation Boards 類型:RS-485 工具用于評估:ADM3485E 接口類型:RS-485 工作電源電壓:3.3 V
XRT94L43ES-LC03 功能描述:時鐘合成器/抖動清除器 OC12-12XDS3MAPPER SCORPION 4x T73LC03A RoHS:否 制造商:Skyworks Solutions, Inc. 輸出端數(shù)量: 輸出電平: 最大輸出頻率: 輸入電平: 最大輸入頻率:6.1 GHz 電源電壓-最大:3.3 V 電源電壓-最小:2.7 V 封裝 / 箱體:TSSOP-28 封裝:Reel
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