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參數(shù)資料
| 型號： | GS1582-IBE3 |
| 廠商： | Gennum Corporation |
| 英文描述： | IC,MOT,MC145026P, DIP-16, ENCODER 9 LINE SIMPLEX |
| 中文描述： | 多速率的電纜驅(qū)動器，音頻多路復(fù)用器和ClockCleaner⑩串行 |
| 文件頁數(shù)： | 106/114頁 |
| 文件大?。?/td> | 1224K |
| 代理商： | GS1582-IBE3 |
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GS1582 Data Sheet
40117 - 1 November 2007
106 of 114
When the JTAG tests are applied by ATE, care must be taken to disable any other
devices driving the digital I/O pins. If the tests are to be applied only at ATE, this
can be accomplished with tri-state buffers used in conjunction with the
JTAG/HOST input signal. This is shown in
Figure 4-31
.
Figure 4-31: In-Circuit JTAG
Alternatively, if the test capabilities are to be used in the system, the host processor
may still control the JTAG/HOST input signal, but some means for tri-stating the
host must exist in order to use the interface at ATE. This is represented in
Figure 4-32
.
Figure 4-32: System JTAG
NOTE: Scan coverage is limited to digital pins only. There is no scan coverage for
analog pins VCO, SDO/SDO, RSET, LF, and CP_RES.
NOTE: The SD/HD pin must be held LOW during scan and therefore has no scan
coverage.
Please contact your Gennum representative to obtain the BSDL model for the
GS1582.
Application HOST
GS1582
CS_TMS
SCLK_TCK
SDIN_TDI
SDOUT_TDO
JTAG_HOST
In-circuit ATE probe
Application HOST
GS1582
CS_TMS
SCLK_TCK
SDIN_TDI
SDOUT_TDO
JTAG_HOST
In-circuit ATE probe
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