• <dl id="a92jn"><tt id="a92jn"></tt></dl>
    參數(shù)資料
    型號: COLDFIRE3UM
    英文描述: Version 3 ColdFire Core User's Manual
    中文描述: 版本3 ColdFire內(nèi)核的用戶手冊
    文件頁數(shù): 184/253頁
    文件大?。?/td> 1762K
    代理商: COLDFIRE3UM
    第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁當(dāng)前第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁第220頁第221頁第222頁第223頁第224頁第225頁第226頁第227頁第228頁第229頁第230頁第231頁第232頁第233頁第234頁第235頁第236頁第237頁第238頁第239頁第240頁第241頁第242頁第243頁第244頁第245頁第246頁第247頁第248頁第249頁第250頁第251頁第252頁第253頁
    Test Operation
    MOTOROLA
    ColdFire2/2M User’s Manual
    For More Information On This Product,
    Go to: www.freescale.com
    8-5
    The I/O test ring behaves in the same manner for the ASIC logic as it does for ColdFire2/
    2M.
    Table 8-2
    lists the I/O test ring control signal configurations for the different modes of
    testing.
    Table 8-3
    and
    Table 8-4
    list each signal, which I/O test ring chain it is part of, and
    how deep (how many cells from TRSDI[1:0] it is in the chain. Note that an X means that the
    signal needs to be driven, however high or low is optional. The actual value is a don’t care.
    * Needs to driven high or low. The actual value is a don’t care.
    Table 8-2. I/O TEST RING MODE CONFIGURATioNS
    LOAD
    SCAN
    ColdFire2/2M
    1
    0
    ON
    1
    *X
    SCAN
    ASIC
    0
    0
    ON
    1
    *X
    SHIFT OUT
    FUNCTIONAL
    (NON-SCAN)
    *X
    *X
    *X
    0
    *X
    CORE_TEST
    TR_SE
    TRCLK
    TR_MODE
    TR_SDI[1:0]
    *X
    1
    ON
    *X
    *X
    1
    ON
    *X
    *X
    APPLY DATA
    Table 8-3. I/O TEST RING CHAIN 0 (TRSDI[0]/TRSDO[0])
    CORE INPUT
    CORE OUTPUT
    CELL #
    (2 REGS/
    CELL)
    HEAD OF I/O
    TEST RING
    CHAIN 0
    2
    3
    4
    5
    6
    7
    8
    9
    10
    11
    12
    13
    14
    15
    16
    17
    18
    19
    20
    21
    22
    CORE INPUT CORE OUTPUT
    CELL #
    (2 REGS/
    CELL)
    23
    MRDATA_IE
    MWDATA_OE
    MRDATA[21]
    MWDATA[21]
    MRDATA[0]
    MRDATA[1]
    MRDATA[2]
    MRDATA[3]
    MRDATA[4]
    MRDATA[5]
    MRDATA[6]
    MRDATA[7]
    MRDATA[8]
    MRDATA[9]
    MRDATA[10]
    MRDATA[11]
    MRDATA[12]
    MRDATA[13]
    MRDATA[14]
    MRDATA[15]
    MRDATA[16]
    MRDATA[17]
    MRDATA[18]
    MRDATA[19]
    MRDATA[20]
    MWDATA[0]
    MWDATA[1]
    MWDATA[2]
    MWDATA[3]
    MWDATA[4]
    MWDATA[5]
    MWDATA[6]
    MWDATA[7]
    MWDATA[8]
    MWDATA[9]
    MWDATA[10]
    MWDATA[11]
    MWDATA[12]
    MWDATA[13]
    MWDATA[14]
    MWDATA[15]
    MWDATA[16]
    MWDATA[17]
    MWDATA[18]
    MWDATA[19]
    MWDATA[20]
    MRDATA[22]
    MRDATA[23]
    MRDATA[24]
    MRDATA[25]
    MRDATA[26]
    MRDATA[27]
    MRDATA[28]
    MRDATA[29]
    MRDATA[30]
    MRDATA[31]
    MTEAB
    IPLB[0]
    IPLB[1]
    IPLB2]
    ICH_SZ[0]
    ICH_SZ[1]
    ICH_SZ[2]
    SRAM_SZ[0]
    SRAM_SZ[1]
    SRAM_SZ[2]
    ROM_SZ[2]
    MWDATA[22]
    MWDATA[23]
    MWDATA[24]
    MWDATA[25]
    MWDATA[26]
    MWDATA[27]
    MWDATA[28]
    MWDATA[29]
    MWDATA[30]
    MWDATA[31]
    MKILLB
    MTM[0]
    MTM[1]
    MTM[2]
    PST[0]
    PST[1]
    PST[2]
    DDATA[0]
    DDATA[1]
    DDATA[2]
    TEST_RHIT
    24
    25
    26
    27
    28
    29
    30
    31
    32
    33
    34
    35
    36
    37
    38
    39
    40
    41
    42
    43
    TAIL OF I/O
    TEST RING
    CHAIN 0
    F
    Freescale Semiconductor, Inc.
    n
    .
    相關(guān)PDF資料
    PDF描述
    COM150A 100V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package
    COM2017P UART
    COM2502P UART
    COM250A 200V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package
    COM350A 400V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package
    相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
    參數(shù)描述
    COLD-PACK 制造商:NTE Electronics 功能描述:
    COLDS/002 制造商:Farnell / Duratool 功能描述:JOBBER DRILL SET 1.0-13.0X0.5MM
    COLINKEX 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:ADAPTER DEBUG SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:ADAPTER, DEBUG, SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:DEBUGGER, LPC13XX; Silicon Family Name:LPC13xx; Core Architecture:ARM; Core Sub-Architecture:Cortex-M3; IC Product Type:Debugger; Features:Support Cortex M0 and Cortex M3 Devices, Support Software & JTAG Debugging ;RoHS Compliant: Yes
    COLINKEX"LPC11C14 EVB 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:DEVELOPMENT TOOL CORTEX-M0 LPC11C14 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:DEVELOPMENT TOOL, CORTEX-M0, LPC11C14
    COLINKEX_LPC11C14 EVB 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:BOARD EVAL LPC1114 W/ COLINK 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:BOARD EVAL LPC1114 W/ COLINKEX 制造商:EMBEST 功能描述:BOARD, EVAL, LPC1114 W/ COLINKEX 制造商:EMBEST 功能描述:DEVELOPMENT TOOL, CORTEX-M0, LPC11C14; Silicon Manufacturer:NXP; Core Architecture:ARM; Core Sub-Architecture:Cortex-M0; Silicon Core Number:LPC11C14; Silicon Family Name:LPC11Cxx ;RoHS Compliant: Yes