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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | COLDFIRE3UM |
| 英文描述： | Version 3 ColdFire Core User＇s Manual |
| 中文描述： | 版本3 ColdFire內(nèi)核的用戶手冊(cè) |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 13/253頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 1762K |
| 代理商： | COLDFIRE3UM |
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TABLE OF CONTENTS (Continued)
Paragraph
Number
Page
Number
Title
MOTOROLA
ColdFire2/2M User’s Manual
For More Information On This Product,
Go to: www.freescale.com
xv
7.4.1.1
7.4.1.2
7.4.2
7.4.2.1
7.4.2.2
7.4.2.3
7.4.2.4
7.4.2.5
7.4.2.6
7.4.3
7.4.4
7.4.5
Emulator Mode ................................................................................7-27
Reuse of Debug Module Hardware .................................................7-28
Programming Model .............................................................................7-28
Address Breakpoint Registers (ABLR, ABHR) ................................7-29
Address Attribute Register (AATR)..................................................7-30
Program Counter Breakpoint Register (PBR, PBMR) .....................7-32
Data Breakpoint Register (DBR, DBMR).........................................7-33
Trigger Definition Register (TDR) ....................................................7-34
Configuration/Status Register (CSR)...............................................7-36
Concurrent BDM and Processor Operation..........................................7-39
Motorola Recommended BDM Pinout..................................................7-39
Differences Between the ColdFire2/2M BDM and CPU32 BDM ..........7-40
Section 8
Test Operation
8.1
8.1.1
8.1.1.1
8.1.1.2
8.1.1.3
8.1.1.4
8.1.1.5
8.1.1.6
8.1.1.7
8.1.1.8
8.1.1.9
8.1.1.10
8.1.1.11
8.1.1.12
8.1.1.13
8.1.1.14
8.1.2
8.1.3
8.1.4
8.1.4.1
8.1.4.2
8.1.5
8.1.5.1
8.1.5.2
8.1.6
8.1.7
Integrated Memory Testing..........................................................................8-1
Test Bus Signal Description ...................................................................8-1
Test Address Bus (TEST_ADDR[14:2]).............................................8-1
Test Control (TEST_CTRL) ...............................................................8-1
Test IDATA Read (TEST_IDATA_RD) ..............................................8-1
Test IDATA Write (TEST_IDATA_WRT) ...........................................8-2
Test Instruction Cache Read Hit (TEST_RHIT).................................8-2
Test Invalidate Inhibit (TEST_IVLD_INH)..........................................8-2
Test ITAG Write (TEST_ITAG_WRT)................................................8-2
Test KTA Mode Enable (TEST_KTA)................................................8-2
Test Mode Enable (TEST_MODE) ....................................................8-2
Test SRAM Read (TEST_SRAM_RD)...............................................8-2
Test SRAM Write (TEST_SRAM_WRT)............................................8-2
Test Read (TEST_RD) ......................................................................8-2
Test ROM Read (TEST_ROM_RD)...................................................8-2
Test Write Inhibit (TEST_WR_INH)...................................................8-2
Theory of Operation................................................................................8-2
Test Mode...............................................................................................8-3
Instruction Cache Tag RAM Testing.......................................................8-3
Instruction Cache Tag RAM Write Function ......................................8-3
Instruction Cache Tag RAM Read Function ......................................8-5
Instruction Cache Data RAM Testing .....................................................8-6
Instruction Cache Data RAM Write Function.....................................8-6
Instruction Cache Data RAM Read Function.....................................8-8
Instruction Cache KTA Mode Testing.....................................................8-9
ROM Testing ........................................................................................8-11
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
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PDF描述 |
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