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參數資料
| 型號： | COLDFIRE3UM |
| 英文描述： | Version 3 ColdFire Core User＇s Manual |
| 中文描述： | 版本3 ColdFire內核的用戶手冊 |
| 文件頁數： | 182/253頁 |
| 文件大?。?/td> | 1762K |
| 代理商： | COLDFIRE3UM |
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Test Operation
MOTOROLA
ColdFire2/2M User’s Manual
For More Information On This Product,
Go to: www.freescale.com
8-3
Figure 8-1. Scan Test Implementation Diagram
SI/SO refer to the 16 parallel scan chains that cover the registers in ColdFire2/
2M.SCAN_EN controls these chains. If these pins, plus all other inputs and outputs of
ColdFire2/2M were muxed to package pins, ATPG coverage of the core would be enabled.
The I/O test ring allows stimulus to be applied to embedded ColdFire2/2M inputs and allows
ColdFire2/2M embedded outputs to be observed with a minimum of pins muxed to the chip
periphery. SI[15:0] is used to load the ColdFire2/2M parallel scan chains while TR_SDI[1:0]
set up the appropriate values on the ColdFire2/2M inputs for each scan vector. SO[15:0] and
TR_SDO[1:0] are used to observe and verify the scan behavior.
The I/O test ring isolates the ASIC logic from the ColdFire2/2M enabling separate scan
testing of each. It is comprised of two scan chains, each containing 44 registers (half
scannable, half not; see
Table 8-3
,
Table 8-4
and Figure 8-2). The heads of the chains are
TR_SDI[0] and TR_SDI[1]. The tails of the chains are TR_SDO[0] and TR_SDO[1]. The I/O
test ring also enables input and output spec testing as follows: the clocks (TR_CLK and
CLK) can be skewed to verify that a transition launched from the scan ring is captured at the
input register in a specified period of time. This is then verified by capturing outputs of the
ColdFire2/2M and shifting the scan data out to compare to expected values. This is also how
output specs are verified: the clocks can be skewed a specified amount, and an output
transition can be captured by the scan ring. Again, the data is shifted out and values
compared to expected values. See
Table 8-1
for scan chain I/O and length information.
SO[15:0]
S1[15:0]
OUTPUT
INPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
INPUT
INPUT
INPUT
TR_SDI[1:0]
TR_SDO[1:0]
TEST RING
CF2 CPU
COLDFIRE2/2M
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| COM150A | 100V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package |
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| COM2502P | UART |
| COM250A | 200V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package |
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相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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| COLDS/002 | 制造商:Farnell / Duratool 功能描述:JOBBER DRILL SET 1.0-13.0X0.5MM |
| COLINKEX | 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:ADAPTER DEBUG SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:ADAPTER, DEBUG, SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:DEBUGGER, LPC13XX; Silicon Family Name:LPC13xx; Core Architecture:ARM; Core Sub-Architecture:Cortex-M3; IC Product Type:Debugger; Features:Support Cortex M0 and Cortex M3 Devices, Support Software & JTAG Debugging ;RoHS Compliant: Yes |
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