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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | MPC509 |
| 廠商： | MOTOROLA INC |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | Highly Integrated, Low-Power, 32-Bit Microcontroller |
| 中文描述： | 32-BIT, RISC MICROCONTROLLER, PQFP16 |
| 文件頁數(shù)： | 279/300頁 |
| 文件大小： | 3744K |
| 代理商： | MPC509 |
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MPC509
USER’S MANUAL
IEEE 1149.1-COMPLIANT INTERFACE
Rev. 15 June 98
MOTOROLA
9-5
TDI and TDO when no test operation of a component is required. In this instruction,
the MPC509 system logic is independent of the test access port. When this instruction
is selected, the test logic shall have no effect on the operation of the on-chip system
logic as required in the IEEE 1149.1-1990 specification.
Figure 9-4 Bypass Register
9.5.3 SAMPLE/PRELOAD (1110)
The SAMPLE/PRELOAD instruction enables the boundary scan register between TDI
and TDO as test data register. When this instruction is selected, the operation of the
test logic shall have no effect on the operation of the on-chip system logic or on the
flow of signal between the system pin and the on-chip system logic as required in the
1149.1 specification.
This instruction provides two separate functions. First, it provides a means to obtain a
snapshot of system data and control signals (SAMPLE). The snapshot occurs on the
rising edge of TCK in the Capture-DR controller state. The data can be observed by
shifting it transparently through the boundary scan register. In a normal system con-
figuration many signals require external pull-ups to ensure proper system operation.
Consequently, the same is true for the SAMPLE/PRELOAD functionality. The data
latched into the boundary scan register during the Capture-DR state may not match
the drive state of the package signal if the system-required pull-ups are not present
within the test environment.
The second function of the SAMPLE/PRELOAD instruction is to initialize the boundary
scan register output cells (PRELOAD) prior to selection of CLAMP, EXTEST or
EXTEST_PULLUP. This initialization ensures that known data will appear on the out-
puts when executing the EXTEST instruction. The data held in the shift register stage
is transferred to the output stage on the falling edge of TCK in the Update-DR control-
ler state.
NOTE
Since there is no internal synchronization between the IEEE 1149.1
clock (TCK) and the system clock (CLK), the user must provide some
form of external synchronization to achieve meaningful results when
sampling system values.
9.5.4 CLAMP (0011)
The CLAMP instruction enables the single-bit BYPASS register between TDI and TDO
as test data register. It is provided as a public instruction. When the CLAMP instruction
D
CK
Q
CLOCKDR
TO TDO MUX
TDI
SHIFTDR
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| MPC509AP | 功能描述:多路器開關(guān) IC 4-Ch Diff-Input Analog Mult RoHS:否 制造商:Texas Instruments 通道數(shù)量:1 開關(guān)數(shù)量:4 開啟電阻（最大值）:7 Ohms 開啟時(shí)間（最大值）: 關(guān)閉時(shí)間（最大值）: 傳播延遲時(shí)間:0.25 ns 工作電源電壓:2.3 V to 3.6 V 工作電源電流: 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:UQFN-16 |
| MPC509AP | 制造商:BURR-BROWN 功能描述:IC MUX 4CH DP DIP28 509 制造商:Texas Instruments 功能描述:Multiplexer IC Multiplexer Type:Differen |
| MPC509APG4 | 功能描述:多路器開關(guān) IC 4Ch Diff-Input Ana Multiplexer RoHS:否 制造商:Texas Instruments 通道數(shù)量:1 開關(guān)數(shù)量:4 開啟電阻（最大值）:7 Ohms 開啟時(shí)間（最大值）: 關(guān)閉時(shí)間（最大值）: 傳播延遲時(shí)間:0.25 ns 工作電源電壓:2.3 V to 3.6 V 工作電源電流: 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:UQFN-16 |
| MPC509AU | 功能描述:多路器開關(guān) IC 4-Ch Diff-Input Analog Mult RoHS:否 制造商:Texas Instruments 通道數(shù)量:1 開關(guān)數(shù)量:4 開啟電阻（最大值）:7 Ohms 開啟時(shí)間（最大值）: 關(guān)閉時(shí)間（最大值）: 傳播延遲時(shí)間:0.25 ns 工作電源電壓:2.3 V to 3.6 V 工作電源電流: 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:UQFN-16 |
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