參數(shù)資料
型號(hào)： COLDFIRE2UMAD
英文描述： Version 2/2M ColdFire Core Processor User＇s Manual Addendum
中文描述： 版本2/2M ColdFire內(nèi)核的處理器用戶手冊附錄
文件頁數(shù)： 186/253頁
文件大小： 1762K
代理商： COLDFIRE2UMAD
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Test Operation
MOTOROLA
ColdFire2/2M User’s Manual
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8-7
SRAM, ROM, and ICACHE, all signals listed here must be brought out to package pins via
muxing. If only one or two types of integrated memories are used, a subset of signals listed
here must be brought out to package pins. I.E. some of the test input control pins could be
negated instead of needing to be muxed out. Also, depending upon array size, not all of
TEST_ADDR may be necessary. All ColdFire2/2M signals are unidirectional and
synchronous.
8.3.1.1 TEST ADDRESS BUS (TEST_ADDR[14:2]).
specify an address when testing the integrated memories.
These input signals are used to
8.3.1.2 TEST CONTROL (TEST_CTRL).
address bus (TEST_ADDR[14:2]) will be latched on the next positive clock edge.
This active-high input signal indicates the test
8.3.1.3 TEST IDATA READ (TEST_IDATA_RD).
test the instruction cache data memory read operation.
This active-high input signal is used to
8.3.1.4 TEST IDATA WRITE (TEST_IDATA_WRT).
test the instruction cache data memory write operation.
This active-high input signal is used to
8.3.1.5 TEST INSTRUCTION CACHE READ HIT (TEST_RHIT).
signal indicates a hit has occurred when accessing the instruction cache during memory
array testing.
This active-high output
8.3.1.6 TEST INVALIDATE INHIBIT (TEST_IVLD_INH).
inhibits the invalidate operation when testing the instruction cache.
This active-high input signal
8.3.1.7 TEST ITAG WRITE (TEST_ITAG_WRT).
test the instruction cache tag memory write operation.
This active-high input signal is used to
8.3.1.8 TEST KTA MODE ENABLE (TEST_KTA).
instruction cache tag and data arrays to be read in parallel, mimicking the functional
operation. This allows testing of the speed path from the tag and data arrays to the core.
This active-high input signal allows the
8.3.1.9 TEST MODE ENABLE (TEST_MODE).
enable all of the integrated memory test signals. TEST_MODE should be asserted for the
duration of memory testing.
This active-high input signal is used to
8.3.1.10 TEST SRAM READ (TEST_SRAM_RD).
test the integrated SRAM memory read operation.
This active-high input signal is used to
8.3.1.11 TEST SRAM WRITE (TEST_SRAM_WRT).
to test the integrated SRAM memory write operation.
This active-high input signal is used
8.3.1.12 TEST READ (TEST_RD).
operations on all of the integrated memories.
This active-high input signal is used to test read
8.3.1.13 TEST ROM READ (TEST_ROM_RD).
the integrated ROM memory read operation.
This active-high input signal is used to test
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
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PDF描述
COLDFIRE3UM Version 3 ColdFire Core User＇s Manual
COM150A 100V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package
COM2017P UART
COM2502P UART
COM250A 200V Single N-Channel Hi-Rel MOSFET in a TO-254AA package
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參數(shù)描述
COLDFIRE3UM 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Version 3 ColdFire Core User＇s Manual
COLD-PACK 制造商:NTE Electronics 功能描述:
COLDS/002 制造商:Farnell / Duratool 功能描述:JOBBER DRILL SET 1.0-13.0X0.5MM
COLINKEX 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:ADAPTER DEBUG SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:ADAPTER, DEBUG, SW/JTAG 制造商:EMBEST 功能描述:DEBUGGER, LPC13XX; Silicon Family Name:LPC13xx; Core Architecture:ARM; Core Sub-Architecture:Cortex-M3; IC Product Type:Debugger; Features:Support Cortex M0 and Cortex M3 Devices, Support Software & JTAG Debugging ;RoHS Compliant: Yes
COLINKEX"LPC11C14 EVB 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:DEVELOPMENT TOOL CORTEX-M0 LPC11C14 制造商:Embest Info&Tech Co Ltd 功能描述:DEVELOPMENT TOOL, CORTEX-M0, LPC11C14
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