參數(shù)資料
型號(hào)： XE8000EV104
廠商： Semtech
文件頁(yè)數(shù)： 17/156頁(yè)
文件大小： 0K
描述： EVAL BOARD FOR XE8805AMI028LF
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
類(lèi)型： MCU
適用于相關(guān)產(chǎn)品： XE88LC05AMI028
所含物品： 完全組裝的評(píng)估板
第1頁(yè)第2頁(yè)第3頁(yè)第4頁(yè)第5頁(yè)第6頁(yè)第7頁(yè)第8頁(yè)第9頁(yè)第10頁(yè)第11頁(yè)第12頁(yè)第13頁(yè)第14頁(yè)第15頁(yè)第16頁(yè)當(dāng)前第17頁(yè)第18頁(yè)第19頁(yè)第20頁(yè)第21頁(yè)第22頁(yè)第23頁(yè)第24頁(yè)第25頁(yè)第26頁(yè)第27頁(yè)第28頁(yè)第29頁(yè)第30頁(yè)第31頁(yè)第32頁(yè)第33頁(yè)第34頁(yè)第35頁(yè)第36頁(yè)第37頁(yè)第38頁(yè)第39頁(yè)第40頁(yè)第41頁(yè)第42頁(yè)第43頁(yè)第44頁(yè)第45頁(yè)第46頁(yè)第47頁(yè)第48頁(yè)第49頁(yè)第50頁(yè)第51頁(yè)第52頁(yè)第53頁(yè)第54頁(yè)第55頁(yè)第56頁(yè)第57頁(yè)第58頁(yè)第59頁(yè)第60頁(yè)第61頁(yè)第62頁(yè)第63頁(yè)第64頁(yè)第65頁(yè)第66頁(yè)第67頁(yè)第68頁(yè)第69頁(yè)第70頁(yè)第71頁(yè)第72頁(yè)第73頁(yè)第74頁(yè)第75頁(yè)第76頁(yè)第77頁(yè)第78頁(yè)第79頁(yè)第80頁(yè)第81頁(yè)第82頁(yè)第83頁(yè)第84頁(yè)第85頁(yè)第86頁(yè)第87頁(yè)第88頁(yè)第89頁(yè)第90頁(yè)第91頁(yè)第92頁(yè)第93頁(yè)第94頁(yè)第95頁(yè)第96頁(yè)第97頁(yè)第98頁(yè)第99頁(yè)第100頁(yè)第101頁(yè)第102頁(yè)第103頁(yè)第104頁(yè)第105頁(yè)第106頁(yè)第107頁(yè)第108頁(yè)第109頁(yè)第110頁(yè)第111頁(yè)第112頁(yè)第113頁(yè)第114頁(yè)第115頁(yè)第116頁(yè)第117頁(yè)第118頁(yè)第119頁(yè)第120頁(yè)第121頁(yè)第122頁(yè)第123頁(yè)第124頁(yè)第125頁(yè)第126頁(yè)第127頁(yè)第128頁(yè)第129頁(yè)第130頁(yè)第131頁(yè)第132頁(yè)第133頁(yè)第134頁(yè)第135頁(yè)第136頁(yè)第137頁(yè)第138頁(yè)第139頁(yè)第140頁(yè)第141頁(yè)第142頁(yè)第143頁(yè)第144頁(yè)第145頁(yè)第146頁(yè)第147頁(yè)第148頁(yè)第149頁(yè)第150頁(yè)第151頁(yè)第152頁(yè)第153頁(yè)第154頁(yè)第155頁(yè)第156頁(yè)
Semtech 2006
www.semtech.com
16-27
XE8805/05A
0
20
40
60
80
-5
-4
-3
-2
-1
0
1
2
3
4
5
Output Code Deviation From Mean Value [LSB]
O
ccu
ren
ces
[%
o
ftota
lsa
mp
le
s]
Figure 16-17. ADC noise (PGA1, 2 & 3 bypassed, OSR=512,NELCONV=2)
PGA1
PGA2
PGA3
ADC
GD1
GD2
GD3
V
N1
f
S
V
N2
V
N3
(a)
PGA1
PGA2
PGA3
ADC
GD1
GD2
GD3
V
N,IN
f
S
(b)
Figure 16-18. (a) Simple noise model for PGAs and ADC
and (b) total input referred noise
As an example, consider the system where: GD2 = 10 (GD1 = 1; PGA3 bypassed), OSR = 512, NELCONV = 2, VREF =
5V. In this case, the noise contribution VN1 of PGA1 is dominant over that of PGA2. Using equation Eq. 21, we get:
VN,IN = 6.4V (rms) at the input of the acquisition chain, or, equivalently, 0.85 LSB at the output of the ADC.
Considering a 0.2V (rms) maximum signal amplitude, the signal-to-noise ratio is 90dB.
Noise can also be reduced by implementing a software filter. By making an average on a number of subsequent
measurements, the apparent noise is reduced the square root of the number of measurement used to make the
average.
16.8.5
Gain Error and Offset Error
Gain error is defined as the amount of deviation between the ideal transfer function (theoretical equation Eq. 18)
and the measured transfer function (with the offset error removed).
The actual gain of the different stages can vary depending on the fabrication tolerances of the different elements.
Although these tolerances are specified to a maximum of
±3%, they will be most of the time around ±0.5%.
Moreover, the tolerances between the different stages are not correlated and the probability to get the maximal
error in the same direction in all stages is very low. Finally, these gain errors can be calibrated by the software at
the same time with the gain errors of the sensor for instance.
Figure 16-19 shows gain error drift vs. temperature for different PGA gains. The curves are expressed in % of Full-
Scale Range (FSR) normalized to 25°C.
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