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參數(shù)資料
| 型號： | L80600 |
| 英文描述： | L80600 10/100/1000 Mbits/s Ethernet PHY technical manual 3/01 |
| 中文描述： | L80600 10/100/1000 Mbits /秒以太網(wǎng)PHY技術手冊3月1日 |
| 文件頁數(shù)： | 57/192頁 |
| 文件大小： | 1344K |
| 代理商： | L80600 |
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EEPROM Interface
3-7
TDI
Test Data Input
IEEE 1149.1 Test Data Input pin. This pin is the test data
scanned into the device through TDI.
I 157
This pin should be tied LOW during regular chip
operation.
TDO
Test Data Output
IEEE 1149.1 Test Data Output pin. The most recent test
results are scanned out of the device through TDO.
O 158
This pin can be left floating if not used.
TMS
Test Mode Select
IEEE 1149.1 Test Mode Select pin. This pin sequences
the Tap Controller (16-state FSM) to select the desired
test instruction.
I 159
This pin should be tied LOW during regular chip
operation.
TCK
Test Clock
IEEE 1149.1 Test Clock input. This pin is the primary
clock source for all test logic input and output controlled
by the testing entity.
I 163
This pin should be tied LOW during regular chip
operation.
3.5 EEPROM Interface
The EEPROM signals are given in this section.
SDA
Serial Data
This pin is used for EEPROM data. It should be left
floating if the EEPROM interface is not used.
I/O PU 189
SCL
Serial Clock
This pin is used for EEPROM clock. It should be left
floating if the EEPROM interface is not used.
I/O PD 190
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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