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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | W29GL064CT9A |
| 廠商： | WINBOND ELECTRONICS CORP |
| 元件分類： | PROM |
| 英文描述： | 64M X 1 FLASH 3V PROM, 100 ns, PBGA48 |
| 封裝： | GREEN, VFBGA-48 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 55/64頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 563K |
| 代理商： | W29GL064CT9A |
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W29GL064C
Publication Release Date: September 8, 2010
53
Preliminary - Revision A
8.7
Erase and Programming Performance
LIMITS
PARAMETER
MIN
TYP
(1)
MAX
(2)
UNITS
Chip Erase Time
19.2
128
Sec
Sector Erase Time
.15
1
Sec
Chip Programming Time
24
112
Sec
Word Programming Time
6
28
s
Total Write Buffer Time
96
s
ACC Total Write Buffer Time
77
s
Erase/Program Cycles
100,000
Cycles
Table 8-10
AC Characteristics for Erase and Programming Performance
Notes:
1.
Typical program and erase times assume the following conditions: 25°C, 3.0V VCC. Programming specifications
assume checkboard data pattern.
2.
Maximum values are measured at VCC = 3.0 V, worst case temperature. Maximum values are valid up to and
including 100,000 program/erase cycles.
3.
Erase/Program cycles comply with JEDEC JESD-47E & A117A standard.
4.
Exclude 00h program before erase operation.
8.8
Data Retention
PARAMETER
CONDITION
MIN
MAX
UNIT
Data Retention
55°C
20
Years
Table 8-11
Data Retention
8.9
Latch-up Characteristics
PARAMETER
MIN
MAX
Input Voltage different with GND on #WP/ACC and A9 pins
-1.0V
10.5V
Input Voltage difference with GND on all normal input pins
-1.0V
1.5xVCC
VCC Current
-100mA
+100mA
All pins included except VCC. Test condition is VCC=3.0V, one pin per test.
Table 8-12
Latch-up Characteristics
8.10 Pin Capacitance
DESCRIPTION
PARAMETER
TEST SET
TYP.
MAX
UNIT
Control Pin Capacitance
CIN2
VIN=0
7.5
9
pF
Output Capacitance
COUT
VOUT=0
8.5
12
pF
Input Capacitance
CIN
VIN=0
6
7.5
pF
Table 8-13
Pin Capacitance
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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| W29GL128CH9T TR | 制造商:Winbond Electronics Corp 功能描述:IC FLASH 128MBIT 90NS 56TSOP |
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