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參數(shù)資料
| 型號： | XC4052XL-3HQ304I |
| 廠商： | Xilinx Inc |
| 文件頁數(shù)： | 49/68頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA I-TEMP 3.3V 3SPD 304HQFP |
| 產(chǎn)品變化通告： | XC4000(XL,XLA,E) Discontinuation 15/Nov/2004 |
| 標準包裝： | 12 |
| 系列： | XC4000E/X |
| LAB/CLB數(shù)： | 1936 |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 4598 |
| RAM 位總計： | 61952 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 256 |
| 門數(shù)： | 52000 |
| 電源電壓： | 3 V ~ 3.6 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 100°C |
| 封裝/外殼： | 304-BFQFP 裸露焊盤 |
| 供應商設(shè)備封裝： | 304-PQFP（40x40） |
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R
May 14, 1999 (Version 1.6)
6-57
XC4000E and XC4000X Series Field Programmable Gate Arrays
6
XC4000E/EX/XL Program Readback Switching Characteristic Guidelines
Testing of the switching parameters is modeled after testing methods specied by MIL-M-38510/605. All devices are 100%
functionally tested. Internal timing parameters are not measured directly. They are derived from benchmark timing patterns
that are taken at device introduction, prior to any process improvements.
The following guidelines reect worst-case values over the recommended operating conditions.
Note 1:
Timing parameters apply to all speed grades.
Note 2:
If rdbk.TRIG is High prior to Finished, Finished will trigger the rst Readback.
Note 1:
Timing parameters apply to all speed grades.
Note 2:
If rdbk.TRIG is High prior to Finished, Finished will trigger the rst Readback.
RTRC
T
RCRT
T
RCRT
T
2
RCL
T
4
RCRR
T
6
RCH
T
5
RCRD
T
7
DUMMY
rdbk.DATA
rdbk.RIP
rdclk.I
rdbk.TRIG
Finished
Internal Net
VALID
X1790
VALID
1
RTRC
T
1
E/EX
Description
Symbol
Min
Max
Units
rdbk.TRIG
rdbk.TRIG setup to initiate and abort Readback
rdbk.TRIG hold to initiate and abort Readback
1
2
TRTRC
TRCRT
200
50
-
ns
rdclk.1
rdbk.DATA delay
rdbk.RIP delay
High time
Low time
7
6
5
4
TRCRD
TRCRR
TRCH
TRCL
-
250
500
ns
XL
Description
Symbol
Min
Max
Units
rdbk.TRIG
rdbk.TRIG setup to initiate and abort Readback
rdbk.TRIG hold to initiate and abort Readback
1
2
TRTRC
TRCRT
200
50
-
ns
rdclk.1
rdbk.DATA delay
rdbk.RIP delay
High time
Low time
7
6
5
4
TRCRD
TRCRR
TRCH
TRCL
-
250
500
ns
Product Obsolete or Under Obsolescence
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