參數(shù)資料
型號(hào)： 1215E
英文描述： TEST/JTAG SUPPORT|CMOS|QFP|48PIN|PLASTIC
中文描述： 測(cè)試/ JTAG支持|的CMOS | QFP封裝| 48PIN |塑料
文件頁(yè)數(shù)： 87/92頁(yè)
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代理商： 1215E
88
Agere Systems Inc.
User Manual
April 2001
Advanced Operational Mode
497AE and 1215E Boundary-Scan Master 2
Index
Numerics
3-stating of TAP outputs 78
497AA Compatibility Mode 67
A
AC 42, 43
address bus 7, 79
addresses
unused 35
addressing
497AE 36
direct 7
indirect 7
addressing schemes 35
AINC 43
Allentown 4
API 11, 12, 24, 27, 52
APO 11, 12, 24, 27, 53
ATEST_EN 78
ATPG 8, 15, 16, 17, 19, 21, 22, 39, 60, 63
complement bit 43
constant 0 scan output 18
constant 1 scan output 18
counting sequence 20
downcount sequence 18
first and last vectors of test 21
mode signals 42
pseudorandom sequence 18
walking-ones sequence 18
walking-zeros sequence 18
B
BIR 35
quick reference 64
BIST
board-level 17
CBIST register accessible during 22
combined, pseudocode for 33
control parameters 51
coordinated by device controller 7
execution 23, 50, 58
in the BSM2 device 22
involves automatic insertion of 22
low overhead 22
memory 22, 50
passing signature 50
skipping 23, 50
memory retention 22, 50
memory, pseudocode for 33
passing signature 50
peripheral I/O logic 22
random logic 22, 50, 58
skipping 23, 50
random logic, pseudocode for 33
signals disabled during 22
signature aliasing 22
system-level 17, 22
BIST coverage of BSM2 circuitry 22
BIST_IE 9, 50, 51, 58
BISTSR 58
bit
0, TVI/TVO address increment enable 43
1, TVI/TVO address increment enable 43
all BIST done 51
BIST interrupt enable 51
clock divider control 40
data over/underflow interrupt mask 41
execute BIST 51
gated clock 38
IDLE counter state 47
low power mode 39
memory BIST done 51
memory BIST retention test enable 50
memory BIST skip 50
random logic BIST done 51
random logic BIST skip 50
scan done 47
scan sequence modifier enable 43
TAP manual 42
TAP output enable control, for TDO in Manual
Mode 45
TAP reset control 44
TAP state 47
TDI manual mode 44
TDO control, for TAP Manual Mode 45
TDO output enable control 45
TMS control, for TAP Manual Mode 45
TVI empty 48
TVI full 48
TVI full - 1 46
TVO complement 43
TVO empty 48
TVO empty +1 46
TVO full 48
TVO full -1 46
TVX counter state 47
USERIN signal value 47
USEROUT0 control 44
USEROUT1 control 41
when done interrupt mask 41
bits
execution 42
idle type 38
memory BIST signature 51
random logic BIST signature 58
retimed delay control 39
scan type 15, 39
TAP I/O mode 42
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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125-0212-3 EINBAUSTECKER PUSH PULL 8POL
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125-0214-9 KUPPLUNG PUSH PULL 4POL
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1215F2 功能描述:BATT PK 3.0V AA SIZE CARBON ZINC RoHS:否 類別:電池產(chǎn)品 >> 電池組 系列:Eveready® MSDS 材料安全數(shù)據(jù)表:Nickel Cadmium Battery MSDS 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:Cadnica 電池化學(xué):鎳鎘 可充電:是 電池大小:D 單元數(shù):10 電壓 - 額定:12V 容量:4Ah 結(jié)構(gòu):正面至背面，5 排 x 2 芯電池 端接類型:焊片 尺寸/尺寸:6.42" L x 1.28" W x 4.63" H（163.0mm x 32.6mm x 117.6mm） 重量:3.5 磅（1.6kg） 請(qǐng)注意:- 配用:SY125-ND - BATT NICAD 1.2V D 4000MAH 其它名稱:SY125-L025
1215F2X2 功能描述:BATT PK 6.0V AA SIZE CARBON ZINC RoHS:否 類別:電池產(chǎn)品 >> 電池組 系列:Eveready® MSDS 材料安全數(shù)據(jù)表:Nickel Cadmium Battery MSDS 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:Cadnica 電池化學(xué):鎳鎘 可充電:是 電池大小:D 單元數(shù):10 電壓 - 額定:12V 容量:4Ah 結(jié)構(gòu):正面至背面，5 排 x 2 芯電池 端接類型:焊片 尺寸/尺寸:6.42" L x 1.28" W x 4.63" H（163.0mm x 32.6mm x 117.6mm） 重量:3.5 磅（1.6kg） 請(qǐng)注意:- 配用:SY125-ND - BATT NICAD 1.2V D 4000MAH 其它名稱:SY125-L025
1215F2X3 功能描述:BATT PK 9.0V AA SIZE CARBON ZINC RoHS:否 類別:電池產(chǎn)品 >> 電池組 系列:Eveready® MSDS 材料安全數(shù)據(jù)表:Nickel Cadmium Battery MSDS 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:Cadnica 電池化學(xué):鎳鎘 可充電:是 電池大小:D 單元數(shù):10 電壓 - 額定:12V 容量:4Ah 結(jié)構(gòu):正面至背面，5 排 x 2 芯電池 端接類型:焊片 尺寸/尺寸:6.42" L x 1.28" W x 4.63" H（163.0mm x 32.6mm x 117.6mm） 重量:3.5 磅（1.6kg） 請(qǐng)注意:- 配用:SY125-ND - BATT NICAD 1.2V D 4000MAH 其它名稱:SY125-L025
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