參數(shù)資料
型號(hào)： TMS470R1A256PZ
廠商： Texas Instruments, Inc.
英文描述： 16/32-Bit RISC Flash Microcontroller
中文描述： 16/32位RISC閃存微控制器
文件頁(yè)數(shù)： 10/46頁(yè)
文件大?。?/td> 392K
代理商： TMS470R1A256PZ
www.ti.com
TMS470R1A256
16/32-Bit RISC Flash Microcontroller
SPNS100–NOVEMBER 2004
Table 2. Terminal Functions (continued)
TERMINAL
INTERNAL
PULLUP/
PULLDOWN
(3)
TYPE
(1)(2)
DESCRIPTION
PIN
NAME
NUMBER
TEST/DEBUG (T/D)
IPD
TCK
54
3.3-V I
Test clock. TCK controls the test hardware (JTAG)
Test data in. TDI inputs serial data to the test instruction register,
test data register, and programmable test address (JTAG).
Test data out. TDO outputs serial data from the test instruction
register, test data register, identification register, and programmable
test address (JTAG).
Test enable. Reserved for internal use only. TI recommends that
TEST be connected to ground or pulled down to ground by an
external resistor.
Serial input for controlling the state of the CPU test access port
(TAP) controller (JTAG)
Serial input for controlling the second TAP. TI recommends that
TMS2 be connected to VCCIO or pulled up to VCCIO by an external
resistor.
Test hardware reset to TAP1 and TAP2. IEEE Standard 1149-1
(JTAG) Boundary-Scan Logic. TI recommends that TRST be pulled
down to ground by an external resistor.
FLASH
Flash test pads 1 and 2.
For proper operation, these pins must
not be connected (no connect [NC]).
TDI
52
3.3-V I
IPU
TDO
53
3.3-V O
IPD
TEST
27
3.3-V I
IPD
TMS
87
3.3-V I
IPU
TMS2
88
3.3-V I
IPU
TRST
26
3.3-V I
IPD
FLTP1
95
NC
FLTP2
V
CCP
94
96
3.3-V PWR
Flash external pump voltage (3.3 V)
SUPPLY VOLTAGE CORE (1.8 V)
9
40
65
90
93
V
CC
1.8-V PWR
Core logic supply voltage
SUPPLY VOLTAGE DIGITAL I/O (3.3 V)
12
57
V
CCIO
3.3-V PWR
Digital I/O supply voltage
SUPPLY GROUND CORE
6
39
64
89
92
V
SS
GND
Core supply ground reference
SUPPLY GROUND DIGITAL I/O
11
56
V
SSIO
GND
Digital I/O supply ground reference
10
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參數(shù)描述
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