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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | A3PN125-2VQ100 |
| 元件分類： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| 封裝： | 14 X 14 MM, 1.20 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, VQFP-100 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 37/106頁(yè) |
| 文件大小： | 3324K |
| 代理商： | A3PN125-2VQ100 |
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ProASIC3 nano DC and Switching Characteristics
2- 22
R e visio n 8
Single-Ended I/O Characteristics
3.3 V LVTTL / 3.3 V LVCMOS
Low-Voltage Transistor–Transistor Logic (LVTTL) is a general-purpose standard (EIA/JESD) for 3.3 V
applications. It uses an LVTTL input buffer and push-pull output buffer.
Table 2-27 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
3.3 V LVTTL /
3.3 V LVCMOS
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH
IOSL
IOSH
IIL
1 I
IH
2
Drive Strength
Min., V Max., V Min., V Max., V Max., V Min., V mA mA Max., mA3 Max., mA3 A4 A4
2 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
2
25
27
10
4 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
4
25
27
10
6 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
6
51
54
10
8 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
8
51
54
10
Notes:
1. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operation conditions where –0.3 V < VIN < VIL.
2. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input current is
larger when operating outside recommended ranges.
3. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
4. Currents are measured at 85°C junction temperature.
5. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-6
AC Loading
Table 2-28 3.3 V LVTTL/LVCMOS AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input LOW (V)
Input HIGH (V)
Measuring Point* (V)
CLOAD (pF)
03.3
1.4
10
Notes:
1. Measuring point = Vtrip. See Table 2-16 on page 2-17 for a complete table of trip points.
2. Capacitive Load for A3PN060, A3PN125, and A3PN250 is 35 pF.
Test Point
Enable Path
Datapath
35 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ/tZL/tZLS
R to GND for tHZ/tZH/tZHS
35 pF for tZH/tZHS/tZL/tZLS
5 pF for tHZ/tLZ
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PDF描述 |
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