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參數(shù)資料
| 型號： | XAM1808AZCE4 |
| 廠商： | Texas Instruments |
| 文件頁數(shù)： | 167/264頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC ARM PROCESSOR 361NFBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 160 |
| 系列： | Sitara ARM®, Cortex™A8 |
| 處理器類型： | ARM 微處理器 |
| 速度： | 456MHz |
| 電壓： | 1.25 V ~ 1.35 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 361-LFBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 361-NFBGA（13x13） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 296-27534 XAM1808AZCE4-ND |
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SPRS653E – FEBRUARY 2010 – REVISED MARCH 2014
Table 6-136. ARM Debug Features
Category
Hardware Feature
Availability
Software breakpoint
Unlimited
Up to 14 HWBPs, including:
2 precise(1) HWBP inside ARM core which are shared with watch points.
Basic Debug
Hardware breakpoint
8 imprecise(1) HWBPs from ETM’s address comparators, which are shared with trace
function, and can be used as watch points.
4 imprecise(1) HWBPs from ICECrusher.
Up to 6 watch points, including:
2 from ARM core which is shared with HWBPs and can be associated with a data.
Watch point
8 from ETM’s address comparators, which are shared with trace function, and
HWBPs.
2 from ARM core which is shared with HWBPs.
Analysis
Watch point with Data
8 watch points from ETM can be associated with a data comparator, and ETM has
total 4 data comparators.
Counters/timers
3x32-bit (1 cycle ; 2 event)
External Event Trigger In
1
External Event Trigger Out
1
Address range for trace
4
Data qualification for trace
2
System events for trace control
20
Trace Control
Counters/Timers for trace control
2x16-bit
State Machines/Sequencers
1x3-State State Machine
Context/Thread ID Comparator
1
Independent trigger control units
12
Capture depth PC
4k bytes ETB
On-chip Trace
Capture depth PC + Timing
4k bytes ETB
Capture
Application accessible
Y
(1)
Precise hardware breakpoints will halt the processor immediately prior to the execution of the selected instruction. Imprecise breakpoints
will halt the processor some number of cycles after the selected instruction depending on device conditions.
6.34.1 JTAG Port Description
The device target debug interface uses the five standard IEEE 1149.1(JTAG) signals (TRST, TCK, TMS,
TDI, and TDO), a return clock (RTCK) due to the clocking requirements of the ARM926EJ-S and
emulation signals EMU0 and EMU1. TRST holds the debug and boundary scan logic in reset when pulled
low (its default state). Since TRST has an internal pull-down resistor, this ensures that at power up the
device functions in its normal (non-test) operation mode if TRST is not connected. Otherwise, TRST
should be driven inactive by the emulator or boundary scan controller. Boundary scan test cannot be
performed while the TRST pin is pulled low.
Table 6-137. JTAG Port Description
PIN
TYPE
NAME
DESCRIPTION
When asserted (active low) causes all test and debug logic in the device to be reset
TRST
I
Test Logic Reset
along with the IEEE 1149.1 interface
This is the test clock used to drive an IEEE 1149.1 TAP state machine and logic.
TCK
I
Test Clock
Depending on the emulator attached to , this is a free running clock or a gated clock
depending on RTCK monitoring.
Synchronized TCK. Depending on the emulator attached to, the JTAG signals are
RTCK
O
Returned Test Clock
clocked from RTCK or RTCK is monitored by the emulator to gate TCK.
TMS
I
Test Mode Select
Directs the next state of the IEEE 1149.1 test access port state machine
TDI
I
Test Data Input
Scan data input to the device
TDO
O
Test Data Output
Scan data output of the device
Copyright 2010–2014, Texas Instruments Incorporated
Peripheral Information and Electrical Specifications
249
Product Folder Links: AM1808
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
|---|---|
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| XAM1808AZCED4 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:AM1808 ARM Microprocessor |
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