參數(shù)資料
型號： SMFR-29C516ESC
廠商： TEMIC SEMICONDUCTORS
元件分類： 算術(shù)邏輯單元
英文描述： 16-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, QFP100
封裝： MQFP-100
文件頁數(shù)： 41/42頁
文件大?。?/td> 809K
代理商： SMFR-29C516ESC
TABLE 1(C) DYNAMIC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
PARAMETER
CONDITION
MIN
NOM
MAX
UNIT
Idd + Idd2
Operating Current
(Array + buffers)
F = 10 MHz
Sim n°1, first
1000 test
vectors
20
mA
tr,tf
Input rise time and
fall time (Except
Schmitt trigger and
clock inputs)
10% to 90%
500
ns
tt
Output transition
BUF
10% to 90%
CL = 50 pF
5
ns
Timing variations versus temperature and voltage are given in Figure 1.
The following table shows the typical buffer propagation delay variation versus capacitive load of the
figures given in table 2(b) and 3(b). Output buffers of output and I/O pins are specified in paragraph 3
(Signal definitions). Measurements according to applicable MIL STD 883 test method, see Tables 2(b) and
3(b).
BUFFER
SYMBOL
CAPACITIVE LOAD
BUF
Tplh / pF
2.6 ns / 100 pF
Tphl / pF
1.9 ns / 100 pF
Document number
MHS/SCC 021
Date
Issue
Page
23/12/1999
Rev C
8
Rev C
8 /42
TEMI C
Semiconductors
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PDF描述
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