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參數(shù)資料
| 型號： | LFECP33E-5FN672C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 126/163頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 32.8KLUTS 672FPBGA |
| 產(chǎn)品培訓模塊： | LatticeECP3 Introduction |
| 標準包裝： | 40 |
| 系列： | ECP |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 32800 |
| RAM 位總計： | 434176 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 496 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 672-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 672-FPBGA（27x27） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁當前第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁
3-29
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
JTAG Port Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Figure 3-20. JTAG Port Timing Waveforms
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
fMAX
TCK clock frequency
—
25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
Timing v.G 0.30
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
from I/O
Data to be
driven out
to I/O
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
Data Captured
tBTCPH
tBTCPL
tBTCOEN
tBTCRS
tBTUPOEN
tBUTCO
tBTUODIS
tBTCRH
tBTCO
tBTCODIS
tBTS
tBTH
tBTCP
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| LFECP33E-5FN672I | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-5Q208C | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-5Q208I | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-5QN208C | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-5QN208I | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
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