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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | XRT72L73 |
| 廠商： | Exar Corporation |
| 元件分類： | 通信及網(wǎng)絡(luò) |
| 英文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 中文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 文件頁數(shù)： | 55/105頁 |
| 文件大小： | 1307K |
| 代理商： | XRT72L73 |
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á
XRT72L73
THREE CHANNEL, DS3 ATM UNI/CLEAR-CHANNEL FRAMER IC
PRELIMINARY
REV. P1.0.1
55
T
ABLE
8:
T
EST
C
ELL
E
RROR
A
CCUMULATOR
H
OLDING
R
EGISTER
R
EGISTER
7 T
EST
C
ELL
E
RROR
A
CCUMULATOR
H
OLDING
R
EGISTER
H
EX
A
DDRESS
: 0
X
07
B
IT
F
UNCTION
T
YPE
D
EFAULT
D
ESCRIPTION
-O
PERATION
7-0
TEST CELL HOLDING
REGISTER
RO
0x00
Holds the “Unread” byte of the 16-bit Test Cell Error Accumulator, when that
register is read. The XRT72L73 will transfer the contents of the “Unread”
byte to this “Holding” register, anytime the Bidirectional Data Bus (of the
Microprocessor Interface) is configured to be 8-bits wide.
N
OTE
:
This register is only active if the XRT72L73 has been configured to
operate in the “ATM UNI” Mode.
T
ABLE
9:
T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-1
R
EGISTER
8 T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-1 H
EX
A
DDRESS
: 0
X
08
B
IT
F
UNCTION
T
YPE
D
EFAULT
D
ESCRIPTION
-O
PERATION
7-0
TEST CELL HEADER
BYTE 1
R/W
0x11
Test Cell Header Byte - 1
Permits the user to define the value of “Header Byte # 1” within each Test Cell
which is generated by the “Test Cell Generator”.
N
OTE
:
This register is only active if the XRT72L73 has been configured to
operate in the “ATM UNI” Mode.
T
ABLE
10:
T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-2
R
EGISTER
9 T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-2 H
EX
A
DDRESS
: 0
X
09
B
IT
F
UNCTION
T
YPE
D
EFAULT
D
ESCRIPTION
-O
PERATION
7-0
TEST CELL HEADER
BYTE 2
R/W
0x22
Test Cell Header Byte - 2
Permits the user to define the value of “Header Byte # 2” within each Test Cell
which is generated by the “Test Cell Generator”.
N
OTE
:
This register is only active if the XRT72L73 has been configured to
operate in the “ATM UNI” Mode.
T
ABLE
11:
T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-3
R
EGISTER
10 T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-3 H
EX
A
DDRESS
: 0
X
0A
B
IT
F
UNCTION
T
YPE
D
EFAULT
D
ESCRIPTION
-O
PERATION
7-0
TEST CELL HEADER
BYTE 3
R/W
0x33
Test Cell Header Byte - 3
Permits the user to define the value of “Header Byte # 3” within each Test Cell
which is generated by the “Test Cell Generator”.
N
OTE
:
This register is only active if the XRT72L73 has been configured to
operate in the “ATM UNI” Mode.
T
ABLE
12:
T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-4
R
EGISTER
11 T
EST
C
ELL
H
EADER
B
YTE
-4 H
EX
A
DDRESS
: 0
X
0B
B
IT
F
UNCTION
T
YPE
D
EFAULT
D
ESCRIPTION
-O
PERATION
7-0
TEST CELL HEADER
BYTE 4
R/W
0x44
Test Cell Header Byte - 4
Permits the user to define the value of “Header Byte # 4” within each Test Cell
which is generated by the “Test Cell Generator”.
N
OTE
:
This register is only active if the XRT72L73 has been configured to
operate in the “ATM UNI” Mode.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| XRT72L74 | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| XRT7300IV | E3/DS3/STS-1 LINE INTERFACE UNIT |
| XRT7300 | E3/DS3/STS-1 LINE INTERFACE UNIT |
| XRT7302 | 2 Channel E3/DS3/STS-1 Line Interface Unit(2通道 E3/DS3/STS-1線接口單元) |
| XRT73L02M | TWO CHANNEL E3/DS3/STS-1 LINE INTERFACE UNIT |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| XRT72L73IB | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Telecommunication IC |
| XRT72L74IB | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Telecommunication IC |
| XRT7300 | 制造商:EXAR 制造商全稱:EXAR 功能描述:E3/DS3/STS-1 LINE INTERFACE UNIT |
| XRT7300ES | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
| XRT7300IV | 功能描述:外圍驅(qū)動(dòng)器與原件 - PCI . . RoHS:否 制造商:PLX Technology 工作電源電壓: 最大工作溫度: 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FCBGA-1156 封裝:Tray |
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