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參數(shù)資料
| 型號： | TE28F320S3-120 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 16 Characters x 2 Lines, 5x7 Dot Matrix Character and Cursor |
| 中文描述： | 字寬FlashFile⑩Memory系列 |
| 文件頁數(shù)： | 41/52頁 |
| 文件大?。?/td> | 1262K |
| 代理商： | TE28F320S3-120 |
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E
6.2.1
28F160S3, 28F320S3
41
ADVANCE INFORMATION
CAPACITANCE
Table 18. Capacitance
(1)
, T
A
= +25°C, f = 1 MHz
Symbol
Parameter
Typ
Max
Unit
Condition
C
IN
Input Capacitance
6
8
pF
V
IN
= 0.0V
C
OUT
Output Capacitance
8
12
pF
V
OUT
= 0.0V
NOTE:
1.
Sampled, not 100% tested.
6.2.2
AC INPUT/OUTPUT TEST CONDITIONS
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
1.35
2.7
0.0
1.35
AC test inputs are driven at 2.7V for a Logic "1" and 0.0V for a Logic "0." Input timing begins, and output timing ends, at 1.35V.
Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
Figure 14. Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 2.7V
–3.6V
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
1.5
3.0
0.0
1.5
AC test inputs are driven at 3.0V for a Logic "1" and 0.0V for a Logic "0." Input timing begins, and output timing ends, at 1.5V.
Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
Figure 15. Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 3.3V ± 0.3V
(High Speed Testing Configuration)
DEVICE
UNDER
TEST
1.3V
1N914
C
L
OUT
R = 3.3 k
C Includes Jig
Capacitance
Figure 16. Transient Equivalent Testing
Load Circuit
Test Configuration Capacitance Loading Value
Test Configuration
C
L
(pF)
V
CC
= 3.3V
±
0.3V, 2.7V to 3.6V
50
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TE28F160S3-120 | 16 Characters x 2 Lines, 5x7 Dot Matrix Character and Cursor |
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參數(shù)描述 |
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