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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | μPD703003 |
| 廠商： | NEC Corp. |
| 英文描述： | 16/32 Bit Single Chip Microcontrollers(16/32位單片微控制器) |
| 中文描述： | 16/32位單片機(jī)微控制器（16/32位單片微控制器） |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 59/82頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 592K |
| 代理商： | ΜPD703003 |
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59
μ
PD703003
AC Characteristics (T
A
= –40 to +85
°
C, V
DD
= 5 V
±
10%, V
SS
= 0 V)
AC test input waveform
(a) P02/TCLR11, P03/TI11, P04/INTP110 to P07/INTP113, P12/TCLR12, P13/TI12, P14/INTP120, P15/INTP121/
SO2, P16/INTP122/SI2, P17/INTP123/SCK2, P23/RXD0/SI0, P24/SCK0, P26/RXD1/SI1, P27/SCK1, P32/
TCLR32, P33/TI13, P34/INTP130, P35/INTP131/SO3, P36/INTP132/SI3, P37/INTP133/SCK3, P112/TCLR14,
P113/TI14, P114/INTP140 to P117/INTP143, RESET, NMI, MODE, X1
(b) Pins other than those listed in (a) above
AC test output test points
Load condition
Caution
In cases where the load capacitance is greater than 50 pF due to the circuit configuration,
insert a buffer or other element to reduce the device’s load capacitance to below 50 pF.
Test points
0.8 V
DD
0.2 V
DD
0.8 V
DD
0.2 V
DD
V
DD
0 V
Test points
2.2 V
0.8 V
2.2 V
0.8 V
2.4 V
0.4 V
Test points
2.2 V
0.8 V
2.2 V
0.8 V
C
L
= 50 pF
DUT
(Device Under Testing)
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