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參數(shù)資料
| 型號： | TMS32C6414EGLSA6E3 |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 元件分類： | 數(shù)字信號處理 |
| 英文描述： | FIXED-POINT DIGITAL SIGNAL PROCESSORS |
| 中文描述： | 定點(diǎn)數(shù)字信號處理器 |
| 文件頁數(shù)： | 78/141頁 |
| 文件大小： | 2234K |
| 代理商： | TMS32C6414EGLSA6E3 |
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TMS320C6414, TMS320C6415, TMS320C6416
FIXED-POINT DIGITAL SIGNAL PROCESSORS
SPRS146N
FEBRUARY 2001
REVISED MAY 2005
78
POST OFFICE BOX 1443
HOUSTON, TEXAS 77251
1443
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
Transmission Line
4.0 pF
1.85 pF
Z0 = 50
(see note)
Tester Pin Electronics
Data Sheet Timing Reference Point
Output
Under
Test
NOTE: The data sheet provides timing at the device pin. For output timing analysis, the tester pin electronics and its transmission line effects
must be taken into account. A transmission line with a delay of 2 ns or longer can be used to produce the desired transmission line effect.
The transmission line is intended as a load only. It is not necessary to add or subtract the transmission line delay (2 ns or longer) from
the data sheet timings.
Input requirements in this data sheet are tested with an input slew rate of < 4 Volts per nanosecond (4 V/ns) at the device pin.
42
3.5 nH
Device Pin
(see note)
Figure 12. Test Load Circuit for AC Timing Measurements
The tester load circuit is for characterization and measurement of AC timing signals. This load does not indicate
the maximum load the device is capable of driving.
signal transition levels
All input and output timing parameters are referenced to 1.5 V for both “0” and “1” logic levels.
V
ref
= 1.5 V
Figure 13. Input and Output Voltage Reference Levels for AC Timing Measurements
All rise and fall transition timing parameters are referenced to V
IL
MAX and V
IH
MIN for input clocks, V
OL
MAX
and V
OH
MIN for output clocks, V
ILP
MAX and V
IHP
MIN for PCI input clocks, and V
OLP
MAX and V
OHP
MIN for
PCI output clocks.
V
ref
= V
IL
MAX (or V
OL
MAX or
V
ILP
MAX or V
OLP
MAX)
V
ref
= V
IH
MIN (or V
OH
MIN or
V
IHP
MIN or V
OHP
MIN)
Figure 14. Rise and Fall Transition Time Voltage Reference Levels
signal transition rates
All timings are tested with an input edge rate of 4 Volts per nanosecond (4 V/ns).
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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