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參數(shù)資料
| 型號： | TL052MFK |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| 中文描述： | 增強型場效應低失調(diào)運算放大器 |
| 文件頁數(shù)： | 35/65頁 |
| 文件大?。?/td> | 1022K |
| 代理商： | TL052MFK |
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TL05x, TL05xA, TL05xY
ENHANCED-JFET LOW-OFFSET
OPERATIONAL AMPLIFIERS
SLOS178 – FEBRUARY 1997
35
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
TYPICAL CHARACTERISTICS
Figure 10
DISTRIBUTION OF TL054
INPUT OFFSET VOLTAGE
15
–4
0
P
VIO – Input Offset Voltage – mV
5
25
30
–2
0
1
3
–3
–1
2
4
VCC
±
=
±
15 V
TA = 25
°
C
N Package
20
10
1140 Amplifiers Tested From 3 Wafer Lots
Figure 11
DISTRIBUTION OF TL054A
INPUT OFFSET VOLTAGE
15
12
9
6
3
1.8
1.2
0.6
0
–0.6
–1.2
VIO – Input Offset Voltage – mV
P
0
–1.8
1048 Amplifiers Tested From 3 Wafer Lots
VCC
±
=
±
15 V
TA = 25
°
C
N Package
Figure 12
DISTRIBUTION OF TL051
INPUT OFFSET VOLTAGE
TEMPERATURE COEFFICIENT
–25
0
P
α
VIO – Temperature Coefficient –
μ
V/
°
C
4
8
12
16
20
–20 –15 –10
–5
0
5
10
15
20
25
±
=
±
15 V
TA = 25
°
C to 125
°
C
P Package
0
P
α
VIO – Temperature Coefficient –
μ
V/
°
C
Figure 13
20
30
5
10
15
20
10
0
–10
–20
–30
DISTRIBUTION OF TL052
INPUT OFFSET VOLTAGE
TEMPERATURE COEFFICIENT
TA = 25
°
C to 125
°
C
Outlier: One Unit at –34.6
μ
V/
°
C
=
±
15 V
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TL054AMD | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL054AMJ | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL054AMN | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL051AMD | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL052MP | ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| TL052MFKB | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述:- Bulk |
| TL052MJG | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL052MJGB | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全稱:STMicroelectronics 功能描述:ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
| TL052MLB | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述:- Bulk |
| TL052MP | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:ENHANCED-JFET LOW-OFFSET OPERATIONAL AMPLIFIERS |
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