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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | TE28F320B3BA90 |
| 廠商： | INTEL CORP |
| 元件分類(lèi)： | DRAM |
| 英文描述： | SMART 3 ADVANCED BOOT BLOCK 4-, 8-, 16-, 32-MBIT FLASH MEMORY FAMILY |
| 中文描述： | 2M X 16 FLASH 2.7V PROM, 90 ns, PDSO48 |
| 封裝： | 12 X 20 MM, TSOP-48 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 27/48頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 304K |
| 代理商： | TE28F320B3BA90 |
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E
SMART 3 ADVANCED BOOT BLOCK
27
PRELIMINARY
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
V
CCQ
0.0
V
CCQ
2
V
CCQ
2
0580_05
NOTE:
AC test inputs are driven at V
for a logic
“1” and 0.0V for a logic “0.” Input timing begins, and output timing ends, at V
CCQ
/2.
Input rise and fall times (10%–90%) <10 ns. Worst case speed conditions are when V
CCQ
= V
CCQ
Min.
Figure 5. Input Range and Measurement Points
C
L
Out
V
CCQ
Device
under
Test
R
1
R
2
0580_06
NOTE:
See table for component values.
Figure 6. Test Configuration
Test Configuration Component Values for Worst
Case Speed Conditions
Test Configuration
C
L
(pF)
R
1
(
)
R
2
(
)
V
CCQ1
Standard Test
50
25 K
25 K
V
CCQ2
Standard Test
50
16.7 K
16.7 K
NOTE:
C
L
includes jig capacitance.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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參數(shù)描述 |
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