參數(shù)資料
型號(hào)： TC93P27F
廠商： Toshiba Corporation
英文描述： TOSHIBA CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic
中文描述： 東芝的CMOS數(shù)字集成電路硅單片
文件頁(yè)數(shù)： 13/16頁(yè)
文件大?。?/td> 206K
代理商： TC93P27F
TC93P27F
2002-11-18
13
HOLD
Input Port
Characteristics
Symbol
Test
Circuit
Test Condition
Min
Typ.
Max
Unit
Input leak current
I
LI
V
IH
3.0 V, V
IL
0 V
1.0
A
“H” level
V
IH3
2.4
~
3.0
Input
voltage
“L” level
V
IL3
0
~
1.2
V
A/D Converter
(AD
IN1
to AD
IN3
, DC-REF)
Characteristics
Symbol
Test
Circuit
Test Condition
Min
Typ.
Max
Unit
Analog input voltage
range
V
AD
AD
IN1
to AD
IN3
0
~
V
DD
V
Analog reference
voltage range
V
REF
DC-REF, V
DD
2.0 to 3.6 V
1.0
~
V
DD
0.9
V
Resolution
V
RES
6
bit
Conversion total error
V
DD
2.0 to 3.6 V
1.0
4.0
LSB
Analog input leak
I
LI
V
IH
3.0 V, V
IL
0 V
(AD
IN1
to AD
IN3
, DC-REF)
1.0
A
Key Input Port
(K0 to K3)
Characteristics
Symbol
Test
Circuit
Test Condition
Min
Typ.
Max
Unit
Key input voltage
range
V
KI
0
~
V
DD
V
A/D conversion
resolution
V
RES
3
bit
V
DD
1.8 to 2.0 V
1.5
A/D conversion total
error
V
DD
2.0 to 3.6 V
0.5
LSB
N-ch/P-ch input
resistance
R
IN1
50
100
200
k
“H” level
V
IH4
When releasing WAIT instruction
1.8
~
3.0
Input
voltage
“L” level
V
IL4
When releasing WAIT instruction
0
~
0.3
V
Input leak current
I
LI
When input resistance is off,
V
IH
3.0 V, V
IL
0 V
1.0
A
DO1/OT2, DO2 Output, Mute, OT1 Output
Characteristics
Symbol
Test
Circuit
Test Condition
Min
Typ.
Max
Unit
“H” level
I
OH1
V
OH
2.7 V
0.4
0.8
Output
current
“L” level
I
OL1
V
OL
0.3 V
0.4
0.8
mA
Output off leak current
I
TL
V
TLH
3.0 V, V
TLL
0 V (DO1, DO2)
100
nA
For conditions marked by an asterisk (
*
), guaranteed when V
DD
1.8 to 3.6 V, Ta 10 to 60°C
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