A = -40°C to" />
參數(shù)資料
型號(hào)： T89C51CC02UA-SITIM
廠(chǎng)商： Atmel
文件頁(yè)數(shù)： 47/159頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC 8051 MCU FLASH 16K 28PLCC
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 37
系列： AT89C CAN
核心處理器： 8051
芯體尺寸： 8-位
速度： 40MHz
連通性： CAN，UART/USART
外圍設(shè)備： POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 20
程序存儲(chǔ)器容量： 16KB（16K x 8）
程序存儲(chǔ)器類(lèi)型： 閃存
EEPROM 大?。?/td> 2K x 8
RAM 容量： 512 x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 3 V ~ 5.5 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x10b
振蕩器型： 外部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 28-PLCC
包裝： 管件
配用： AT89STK-06-ND - KIT DEMOBOARD 8051 MCU W/CAN
其它名稱(chēng)： T89C51CC02UASITIM
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140
AT/T89C51CC02
4126L–CAN–01/08
Electrical Characteristics
DC Parameters for
Standard Voltage
T
A = -40°C to +85°C; VSS = 0 V; VCC = 3 volts to 5.5 volts; F = 0 to 40 MHz
Notes:
1. Typicals are based on a limited number of samples and are not guaranteed. The values listed are at room temperature.
2. Flash retention is guaranteed with the same formula for V
CC min down to 0V.
3. Under steady state (non-transient) conditions, I
OL must be externally limited as follows:
Maximum I
OL per port pin: 10 mA
Absolute Maximum Ratings
I = industrial ....................................................... -40
°C to 85°C
Storage Temperature ................................... -65
°C to + 150°C
Voltage on VCC from VSS .....................................-0.5V to + 6V
Voltage on Any Pin from V
SS .....................-0.5V to VCC + 0.2V
Power Dissipation ............................................................. 1 W
Note:
Stresses at or above those listed under “Absolute
Maximum Ratings” may cause permanent damage to
the device. This is a stress rating only and functional
operation of the device at these or any other condi-
tions above those indicated in the operational
sections of this specification is not implied. Exposure
to absolute maximum rating conditions may affect
device reliability.
Power Dissipation value is based on the maximum
allowable die temperature and the thermal resistance
of the package.
Table 114. DC Parameters in Standard Voltage
Symbol
Parameter
Min
Typ(1)
Max
Unit
Test Conditions
V
IL
Input Low Voltage
-0.5
0.2Vcc - 0.1
V
IH
Input High Voltage except XTAL1, RST
0.2 V
CC + 0.9
V
CC + 0.5
V
IH1
(2)
Input High Voltage, XTAL1, RST
0.7 V
CC
V
CC + 0.5
V
OL
Output Low Voltage, ports 1, 2, 3 and 4(3)
0.3
0.45
1.0
V
I
OL = 100 μA
I
OL = 1.6 mA
I
OL = 3.5 mA
V
OH
Output High Voltage, ports 1, 2, 3, 4 and 5
V
CC - 0.3
V
CC - 0.7
V
CC - 1.5
V
I
OH = -10 μA
I
OH = -30 μA
I
OH = -60 μA
V
CC = 5V ± 10%
R
RST
RST Pulldown Resistor
50
90
200
k
Ω
I
IL
Logical 0 Input Current ports 1, 2, 3 and 4
-50
μA
Vin = 0.45V
I
LI
Input Leakage Current
±10
μA
0.45V < Vin < V
CC
I
TL
Logical 1 to 0 Transition Current, ports 1, 2, 3
and 4
-650
μA
Vin = 2.0V
CIO
Capacitance of I/O Buffer
10
pF
Fc = 1 MHz
TA = 25
°C
I
PD
Power-down Current
160
400
μA3V < V
CC < 5.5V
(4)
I
CC
Power Supply Current
I
CCOP
(6) = 0.7 Freq (MHz) + 3 mA
I
CCIDLE
(5)= 0.6 Freq (MHz) + 2 mA
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