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參數(shù)資料
| 型號： | SAK-XC2267M-104F80LAA |
| 廠商： | INFINEON TECHNOLOGIES AG |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, 80 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP100 |
| 封裝： | 0.50 MM PITCH, GREEN, PLASTIC, LQFP-100 |
| 文件頁數(shù)： | 121/129頁 |
| 文件大?。?/td> | 1131K |
| 代理商： | SAK-XC2267M-104F80LAA |
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XC2268M/67M, XC2265M/64M/63M
XC2000 Family Derivatives / Base Line
Electrical Parameters
Data Sheet
91
V2.0, 2009-03
Total capacitance
of an analog input
C
AINT CC
––10
pF
8)9)
Switched capacitance
of an analog input
C
AINS CC
––4
pF
Resistance of
the analog input path
R
AIN CC
––2
k
Ω
Total capacitance
of the reference input
C
AREFT
CC
––15
pF
Switched capacitance
of the reference input
C
AREFS
CC
––7
pF
Resistance of
the reference input path
R
AREF CC
––2
k
Ω
1) TUE is tested at
VAREFx = VDDPA, VAGND = 0 V. It is verified by design for all other voltages within the defined
voltage range.
The specified TUE is valid only if the absolute sum of input overload currents on Port 5 or Port 15 pins (see
IOV specification) does not exceed 10 mA, and if VAREF and VAGND remain stable during the measurement time.
2)
VAIN may exceed VAGND or VAREFx up to the absolute maximum ratings. However, the conversion result in these
cases will be X000H or X3FFH, respectively.
3) The limit values for
fADCI must not be exceeded when selecting the peripheral frequency and the prescaler
setting.
4) This parameter includes the sample time (also the additional sample time specified by STC), the time to
determine the digital result and the time to load the result register with the conversion result.
Values for the basic clock
5) The broken wire detection delay against
VAGND is measured in numbers of consecutive precharge cycles at a
conversion rate of not more than 500
μs.
6) The broken wire detection delay against
VAREF is measured in numbers of consecutive precharge cycles at a
conversion rate of not more than 10
μs. This function is influenced by leakage current, in particular at high
temperature.
7) The total unadjusted error TUE is the maximum deviation from the ideal ADC transfer curve, not the sum of
individual errors.
All error specifications are based on measurement methods standardized by IEEE 1241.2000.
8) Not subject to production test - verified by design/characterization.
9) These parameter values cover the complete operating range. Under relaxed operating conditions
(temperature, supply voltage) typical values can be used for calculation. At room temperature and nominal
supply voltage the following typical values can be used:
CAINTtyp = 12 pF, CAINStyp = 5 pF, RAINtyp = 1.0 kΩ, CAREFTtyp = 15 pF, CAREFStyp = 10 pF, RAREFtyp = 1.0 kΩ.
Table 18
A/D Converter Characteristics (cont’d)
Parameter
Symbol
Limit Values
Unit Test
Condition
Min.
Typ.
Max.
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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| SAK-XC2268I-136F128L AA | 功能描述:IC MCU 16/32 1088KB FLSH 100LQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器， 系列:XC22xxI 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1,900 系列:XC8xx 核心處理器:XC800 芯體尺寸:8-位 速度:27MHz 連通性:CAN，SPI，SSI，UART/USART 外圍設(shè)備:欠壓檢測/復(fù)位，POR，PWM，WDT 輸入/輸出數(shù):40 程序存儲(chǔ)器容量:52KB（52K x 8） 程序存儲(chǔ)器類型:閃存 EEPROM 大小:- RAM 容量:3.25K x 8 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd):4.5 V ~ 5.5 V 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器:A/D 8x10b 振蕩器型:內(nèi)部 工作溫度:-40°C ~ 105°C 封裝/外殼:64-LQFP 包裝:帶卷 (TR) |
| SAK-XC2268N-40F80L AA | 功能描述:IC MCU 16/32B 320KB FLSH 100LQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器， 系列:XC22xxN 標(biāo)準(zhǔn)包裝:330 系列:- 核心處理器:- 芯體尺寸:8/16-位 速度:40MHz 連通性:UART/USART 外圍設(shè)備:DMA，PWM，WDT 輸入/輸出數(shù):32 程序存儲(chǔ)器容量:- 程序存儲(chǔ)器類型:外部程序存儲(chǔ)器 EEPROM 大小:- RAM 容量:- 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd):4.5 V ~ 5.5 V 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器:- 振蕩器型:內(nèi)部 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:100-BQFP 包裝:管件 |
| SAK-XC2268N-40F80LAA | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: 制造商:Infineon Technologies AG 功能描述: |
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