參數(shù)資料
型號(hào)： LFX200EB-03F256I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 80/119頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FPGA 200K GATES 256-BGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： ispXPGA®
邏輯元件/單元數(shù)： 2704
RAM 位總計(jì)： 113664
輸入/輸出數(shù)： 160
門數(shù)： 210000
電源電壓： 2.3 V ~ 3.6 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： -40°C ~ 105°C
封裝/外殼： 256-BGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 256-FPBGA（17x17）
Lattice Semiconductor
ispXPGA Family Data Sheet
59
Switching Test Conditions
Figure 25 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 7.
Figure 25. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 7. Text Fixture Required Components
Test Condition
R1
R2
CL
Timing Reference
VCCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
35pF
LVCMOS 3.3 = VCCO/2
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = VCCO/2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = VCCO/2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> H)
×
106
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (Z -> L)
106
×
35pF
0.9V
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (H -> Z)
×
106
5pF
VOH - 0.3
1.65V
Default LVCMOS 1.8 I/O (L -> Z)
106
×
5pF
VOL + 0.3
1.65V
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
VCCO
R1
R2
CL*
Device
Output
*CL includes test fixture and probe capacitance.
Test
Point
SELECT
DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述
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