參數(shù)資料
型號： LFEC3E-3FN256I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 127/163頁
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描述： IC FPGA 3.1KLUTS 256FPBGA
標準包裝： 90
系列： EC
邏輯元件/單元數(shù)： 3100
RAM 位總計： 56320
輸入/輸出數(shù)： 160
電源電壓： 1.14 V ~ 1.26 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： -40°C ~ 100°C
封裝/外殼： 256-BGA
供應商設備封裝： 256-FPBGA（17x17）
3-30
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-21 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 3-6.
Figure 3-21. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 3-6. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R1
CL
Timing Ref.
VT
LVTTL and other LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
0pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
—
LVCMOS 2.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.8 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.2 = VCCIO/2
—
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> H)
188
0pF
VCCIO/2
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> L)
VCCIO/2
VOH
LVCMOS 2.5 I/O (H -> Z)
VOH - 0.15
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (L -> Z)
VOL + 0.15
VOH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
DUT
VT
R1
CL*
Test Point
*CL Includes Test Fixture and Probe Capacitance
相關PDF資料
PDF描述
LFXP3E-3T144C IC FPGA 3.1KLUTS 100I/O 144-TQFP
RMC60DRES-S93 CONN EDGECARD 120PS .100 EYELET
FMC10DRES-S93 CONN EDGECARD 20POS .100 EYELET
EMC49DRTS-S93 CONN EDGECARD 98POS DIP .100 SLD
ABC50DRTS-S734 CONN EDGECARD 100PS DIP .100 SLD
相關代理商/技術參數(shù)
參數(shù)描述
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LFEC3E-3Q208C 功能描述:FPGA - 現(xiàn)場可編程門陣列 3.1K LUTs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數(shù)量: 邏輯塊數(shù)量:943 內(nèi)嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數(shù)量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256
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