參數(shù)資料
型號(hào): HEF4013BT
廠商: NXP Semiconductors N.V.
元件分類(lèi): 通用總線功能
英文描述: Dual D-type flip-flop
封裝: HEC4013BT<SOT108-1 (SO14)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT108-1.html<1<week 32, 2004,;HEC4013BT<SOT108-1 (SO14)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT108-1.html<1<week
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代理商: HEF4013BT
HEF4013B
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Product data sheet
Rev. 7 — 13 September 2011
8 of 16
NXP Semiconductors
HEF4013B
Dual D-type flip-flop
Recovery times are shown as positive values but may be specified as negative values.
Measurement points are given in
Table 9
.
Fig 5.
nSD, nCD recovery time and pulse width
001aag088
input nSD
input nCD
input nCP
V
I
0 V
0 V
V
OL
0 V
V
I
V
I
V
OH
t
W
V
M
t
W
V
M
V
M
output nQ
t
rec
t
rec
Table 9.
Supply voltage
V
DD
5 V to 15 V
Measurement points
Input
V
M
0.5V
DD
Output
V
M
0.5V
DD
V
X
0.1V
DD
V
Y
0.9V
DD
Test and measurement data is given in
Table 10
;
Definitions test circuit:
DUT = Device Under Test.
R
T
= Termination resistance should be equal to output impedance Z
o
of the pulse generator.
C
L
= Load capacitance including jig and probe capacitance.
Test circuit for measuring switching times
Fig 6.
V
DD
V
I
V
O
001aag182
DUT
CL
RT
G
Table 10.
Supply voltage
V
DD
5 V to 15 V
Test data
Input
V
I
V
SS
or V
DD
Load
C
L
50 pF
t
r
, t
f
20 ns
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