參數(shù)資料
型號(hào)： CD4094BMS
廠商： Intersil Corporation
英文描述： CMOS 8-Stage Shift-and-Store Bus Register(CMOS 8極移位與存儲(chǔ)總線(xiàn)寄存器)
中文描述： 的CMOS 8級(jí)移位和存儲(chǔ)總線(xiàn)寄存器（的CMOS 8極移位與存儲(chǔ)總線(xiàn)寄存器）
文件頁(yè)數(shù)： 6/11頁(yè)
文件大小： 87K
代理商： CD4094BMS
7-1088
Specifications CD4094BMS
Interim Test 1 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
Interim Test 2 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Interim Test 3 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Final Test
100% 5004
2, 3, 8A, 8B, 10, 11
Group A
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11
Group B
Subgroup B-5
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11, Deltas
Subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11
Subgroup B-6
Sample 5005
1, 7, 9
Group D
Sample 5005
1, 2, 3, 8A, 8B, 9
Subgroups 1, 2 3
NOTE: 1. 5% Parameteric, 3% Functional; Cumulative for Static 1 and 2.
TABLE 7. TOTAL DOSE IRRADIATION
CONFORMANCE GROUPS
MIL-STD-883
METHOD
TEST
READ AND RECORD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
Group E Subgroup 2
5005
1, 7, 9
Table 4
1, 9
Table 4
TABLE 8. BURN-IN AND IRRADIATION TEST CONNECTIONS
FUNCTION
OPEN
GROUND
VDD
9V
±
-0.5V
OSCILLATOR
50kHz
25kHz
Static Burn-In 1
(Note 1)
4 - 7, 9 - 14
1 - 3, 8, 15
16
Static Burn-In 2
(Note 1)
4 - 7, 9 - 14
8
1 - 3, 15, 16
Dynamic Burn-
In (Note 1)
-
8
1, 15, 16
4 - 7, 9 - 14
3
2
Irradiation
(Note 2)
4 - 7, 9 - 14
8
1 - 3, 15, 16
NOTES:
1. Each pin except VDD and GND will have a series resistor of 10K
±
5%, VDD = 18V
±
0.5V
2. Each pin except VDD and GND will have a series resistor of 47K
±
5%; Group E, Subgroup 2, sample size is 4 dice/wafer, 0 failures, VDD
= 10V
±
0.5V
TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS
CONFORMANCE GROUP
MIL-STD-883
METHOD
GROUP A SUBGROUPS
READ AND RECORD
相關(guān)PDF資料
PDF描述
CD4094 Quadruple Operational Amplifier, Enhanced Voltage 14-SOIC -40 to 125
CD4094 CMOS 8-Stage Shift-and-Store Bus Register
CD4094BCWM 8-Bit Shift Register/Latch with 3-STATE Outputs
CD4094 Quadruple Operational Amplifier, Enhanced Voltage 14-TSSOP -40 to 125
CD4094BCN Dual Differential Comparator 8-SOIC -40 to 125
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
CD4094BNSR 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 CMOS 8-St Shift & Store Bus Reg RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線(xiàn)路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4094BNSRE4 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 CMOS 8-St Shift & Store Bus Reg RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線(xiàn)路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4094BNSRG4 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 CMOS 8-St Shift & Store Bus Reg RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線(xiàn)路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4094BPW 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 CMOS 8-St Shift & Store Bus Reg RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線(xiàn)路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4094BPWE4 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 CMOS 8-St Shift & Store Bus Reg RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線(xiàn)路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
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