參數(shù)資料
型號： CD4035BMS
廠商： Intersil Corporation
英文描述： CMOS 4 -Stage Parallel In/Parallel Out Shift Register(CMOS 4級并入并出移位寄存器)
中文描述： 的CMOS 4級并行輸入/并行輸出移位寄存器的CMOS（4級并入并出移位寄存器）
文件頁數(shù)： 5/10頁
文件大?。?/td> 117K
代理商： CD4035BMS
7-855
Specifications CD4035BMS
Functional
F
VDD = 18V, VIN = VDD or GND
1
+25
o
C
VOH >
VDD/2
VOL <
VDD/2
V
VDD = 3V, VIN = VDD or GND
Propagation Delay Time
TPHL
TPLH
VDD = 5V
1, 2, 3, 4
+25
o
C
-
1.35 x
+25
o
C
Limit
ns
NOTES: 1. All voltages referenced to device GND.
2. CL = 50pF, RL = 200K, Input TR, TF < 20ns.
3. See Table 2 for +25
o
C limit.
4. Read and Record
TABLE 5. BURN-IN AND LIFE TEST DELTA PARAMETERS +25
O
C
PARAMETER
SYMBOL
DELTA LIMIT
Supply Current - MSI-2
IDD
±
1.0
μ
A
±
20% x Pre-Test Reading
±
20% x Pre-Test Reading
Output Current (Sink)
IOL5
Output Current (Source)
IOH5A
TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS
CONFORMANCE GROUP
MIL-STD-883
METHOD
GROUP A SUBGROUPS
READ AND RECORD
Initial Test (Pre Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
Interim Test 1 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
Interim Test 2 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Interim Test 3 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Final Test
100% 5004
2, 3, 8A, 8B, 10, 11
Group A
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11
Group B
Subgroup B-5
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11, Deltas
Subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11
Subgroup B-6
Sample 5005
1, 7, 9
Group D
Sample 5005
1, 2, 3, 8A, 8B, 9
Subgroups 1, 2 3
NOTE:
1. 5% parametric, 3% functional; cumulative for static 1 and 2.
TABLE 7. TOTAL DOSE IRRADIATION
CONFORMANCE GROUPS
MIL-STD-883
METHOD
TEST
READ AND RECORD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
Group E Subgroup 2
5005
1, 7, 9
Table 4
1, 9
Table 4
TABLE 8. BURN-IN AND IRRADIATION TEST CONNECTIONS
FUNCTION
OPEN
GROUND
VDD
9V
±
-0.5V
OSCILLATOR
50kHz
25kHz
Static Burn-In 1
Note 1
1, 13 - 15
2 - 12
16
Static Burn-In 2
Note 1
1, 13 - 15
8
2 - 7, 9 - 12, 16
Dynamic Burn-
In Note 1
1, 3, 4
2, 5, 7 - 12
16
13 - 15
6
-
Irradiation
Note 2
1, 13 - 15
8
2 - 7, 9 - 12, 16
TABLE 4. POST IRRADIATION ELECTRICAL PERFORMANCE CHARACTERISTICS
PARAMETER
SYMBOL
CONDITIONS
NOTES
TEMPERATURE
LIMITS
UNITS
MIN
MAX
相關(guān)PDF資料
PDF描述
CD4035 Replaced by ISO124 : Low Cost, High Voltage, Wide Bandwidth Standard Hermetic DIP Signal Isolation Buffer Amplifiers 16-CDIP SB
CD4035 4-Bit Parallel-In/Parallel-Out Shift Register
CD4035BC Replaced by ISO124 :
CD4035BM 4-Bit Parallel-In/Parallel-Out Shift Register
CD4040BM 14-Stage, 12-Stage Ripple Carry Binary Counters
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參數(shù)描述
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CD4035BMTE4 功能描述:計數(shù)器移位寄存器 CMOS 4-St Parallel In/Out Shift RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計數(shù)器類型: 計數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類型:Open Drain 傳播延遲時間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4035BMTG4 功能描述:計數(shù)器移位寄存器 CMOS 4-St Parallel In/Out Shift RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計數(shù)器類型: 計數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類型:Open Drain 傳播延遲時間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4035BNSR 功能描述:計數(shù)器移位寄存器 CMOS 4-St Parallel In/Out Shift RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計數(shù)器類型: 計數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類型:Open Drain 傳播延遲時間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
CD4035BNSRE4 功能描述:計數(shù)器移位寄存器 CMOS 4-St Parallel In/Out Shift RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計數(shù)器類型: 計數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類型:Open Drain 傳播延遲時間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
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