參數(shù)資料
型號： CD40174BMS
廠商： Intersil Corporation
英文描述： CMOS Hex D Type Flip-Flop(CMOS 六 D觸發(fā)器)
中文描述： 的CMOS六角D型觸發(fā)器（六?的CMOS觸發(fā)器）
文件頁數(shù)： 5/8頁
文件大小： 70K
代理商： CD40174BMS
7-1388
Specifications CD40174BMS
TABLE 4. POST IRRADIATION ELECTRICAL PERFORMANCE CHARACTERISTICS
PARAMETER
SYMBOL
CONDITIONS
NOTES
TEMPERATURE
LIMITS
UNITS
MIN
MAX
Supply Current
IDD
VDD = 20V, VIN = VDD or GND
1, 4
+25
o
C
-
7.5
μ
A
N Threshold Voltage
VNTH
VDD = 10V, ISS = -10
μ
A
1, 4
+25
o
C
-2.8
-0.2
V
N Threshold Voltage
Delta
VTN
VDD = 10V, ISS = -10
μ
A
1, 4
+25
o
C
-
±
1
V
P Threshold Voltage
VTP
VSS = 0V, IDD = 10
μ
A
1, 4
+25
o
C
0.2
2.8
V
P Threshold Voltage
Delta
VTP
VSS = 0V, IDD = 10
μ
A
1, 4
+25
o
C
-
±
1
V
Functional
F
VDD = 18V, VIN = VDD or GND
1
+25
o
C
VOH >
VDD/2
VOL <
VDD/2
V
VDD = 3V, VIN = VDD or GND
Propagation Delay Time
TPHL
TPLH
VDD = 5V
1, 2, 3, 4
+25
o
C
-
1.35 x
+25
o
C
Limit
ns
NOTES: 1. All voltages referenced to device GND.
2. CL = 50pF, RL = 200K, Input TR, TF < 20ns.
3. See Table 2 for +25
o
C limit.
4. Read and Record
TABLE 5. BURN-IN AND LIFE TEST DELTA PARAMETERS +25
O
C
PARAMETER
SYMBOL
DELTA LIMIT
Supply Current - MSI-1
IDD
±
0.2
μ
A
Output Current (Sink)
IOL5
±
20% x Pre-Test Reading
Output Current (Source)
IOH5A
±
20% x Pre-Test Reading
TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS
CONFORMANCE GROUP
MIL-STD-883
METHOD
GROUP A SUBGROUPS
READ AND RECORD
Initial Test (Pre Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
Interim Test 1 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
Interim Test 2 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Interim Test 3 (Post Burn-In)
100% 5004
1, 7, 9
IDD, IOL5, IOH5A
PDA (Note 1)
100% 5004
1, 7, 9, Deltas
Final Test
100% 5004
2, 3, 8A, 8B, 10, 11
Group A
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11
Group B
Subgroup B-5
Sample 5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11, Deltas
Subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11
Subgroup B-6
Sample 5005
1, 7, 9
Group D
Sample 5005
1, 2, 3, 8A, 8B, 9
Subgroups 1, 2 3
NOTE: 1. 5% Parameteric, 3% Functional; Cumulative for Static 1 and 2.
TABLE 7. TOTAL DOSE IRRADIATION
CONFORMANCE GROUPS
MIL-STD-883
METHOD
TEST
READ AND RECORD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
PRE-IRRAD
POST-IRRAD
Group E Subgroup 2
5005
1, 7, 9
Table 4
1, 9
Table 4
相關(guān)PDF資料
PDF描述
CD40174 CMOS HEX D-TYPE FLIP-FLOP
CD40174BC Hex,Quad D Flip-Flop
CD40174BCJ Hex,Quad D Flip-Flop
CD40174BCN Hex,Quad D Flip-Flop
CD40174BM Hex,Quad D Flip-Flop
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
CD40174BMT 功能描述:觸發(fā)器 CMOS Hex D-Type Flip-Flop RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數(shù)量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel
CD40174BMTE4 功能描述:觸發(fā)器 CMOS Hex D-Type Flip-Flop RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數(shù)量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel
CD40174BMTG4 功能描述:觸發(fā)器 CMOS Hex D-Type Flip-Flop RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數(shù)量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel
CD40174BMW 制造商:Texas Instruments 功能描述:
CD40174BMW/883 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:Hex D-Type Flip-Flop
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