參數(shù)資料
型號： CB2016T2R2M
廠商： Electronic Theatre Controls, Inc.
英文描述： WOUND CHIP INDUCTORS
中文描述： 繞線型片式電感
文件頁數(shù)： 9/16頁
文件大?。?/td> 621K
代理商： CB2016T2R2M
199
F
5
Item
Specified Value
Test Methods and Remarks
LEM2520
Measuring equipment
Network analyzer
f
Anritsu MS620J or its equivalent
g
LB
Y
LBC
Y
CB
Y
CBC
Y
CBL Series
Measuring equipment
Impedance analyzer
f
HP4291A or its equivalent
g
LBH1608 Series
Measuring equipment
Network analyzer
f
HP8720B or its equivalent
g
RELIABILITY DATA
2/8
Q
L/L
C
Within
M
15
L
No breakdown or damage
8.Temperature Char-
acteristic
L/L
Within
M
5
L
9.Rasistance to Flex-
ure of Substrate
10.Body Strength
7.Self-Resonant
Frequency
11.Self Resonant
Freguency
Q
L/L
C
Within
M
5
L
L/L
C
Within
M
0.5nH
under 8.2nH
Within the specified tolerance
No breakdown or damage
L/L
Within
K
10
L
Change of maximum inductance deviation
in step 1
K
5
Exclude CM03MS series
Step
Temperture
fCg
1
20
2
K
25
3
20
f
Reference temperature
g
4
J
85
f
Maximum operating temperature
g
5
20
Warp: 2mm
(LBC, LB, CB, CBC, CBL, LBH Series)
Warp
: 3mm (LEM2520)
Test substrate: Printed board
Accoding to JIS C0051
Applide forde
15N
Duration
5sec.
LB
Y
LBC
Y
CB
Y
CBC
Y
CBL
Y
LBH
Y
LEM2520
Applide forde
10N
Duration
10sec.
LB1608
Applide forde
5N
Duration
10sec.
Measure inductance with application of rated
current using LCR metre to cpmpare it with
the initial value.
f
* Excluding 5N6
V
R10
g
Pressig jig
Board
L/L
Within
K
30
L
3225
2518
2016
Q
L/L
C
Within
M
20
L
2012
Q
L/L
C
Within
M
30
L
Q
L/L
C
Within
M
15
L
2518
2016
Q
L/L
C
Within
M
20
L
2012
Q
L/L
C
Within
M
30
L
LEM2520
LBH1608
LB2518
LB2016
LB2012
LB1608
LBC2518
LBC2016
LBC2012
CB2518
CB2016
CB2012
CBC3225
CBC2518
CBC2016
CBC2012
CBL2012
L/L
Within
M
15
L
Q
L/L
C
Within
K
10
L
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