參數(shù)資料
型號： CB2016T2R2M
廠商： Electronic Theatre Controls, Inc.
英文描述： WOUND CHIP INDUCTORS
中文描述： 繞線型片式電感
文件頁數(shù)： 13/16頁
文件大?。?/td> 621K
代理商： CB2016T2R2M
207
F
5
RELIABILITY DATA
6/8
Item
Specified Value
Test Methods and Remarks
18.Thermal shock
19.Damp heat
L/L
Within
M
10
L
Q
10N
10min.
12N
V
33N
15min.
39N
V
R10
20min.
R12
V
4R7
30min.
5R6
V
330
25min.
390
V
820
20min.
101
15min.
L/L
Within
M
10
L
L/L
Within
M
5
L
L/L
within
M
0.5nH
under
8.2
H
Q/Q
within
M
20
L
Q/Q
within
M
5 under
8.2
H
L/L
Within
M
10
L
Q
10N
10min.
12N
V
33N
15min.
39N
V
R10
20min.
R12
V
4R7
30min.
5R6
V
330
25min.
390
V
820
20min.
101
15min.
L/L
Within
M
10
L
L/L
Within
M
5
L
L/L
within
M
0.5nH
under
8.2
H
Q/Q
Within
M
20
L
Q/Q
within
M
5 under
8.2
H
Conditions for 1cycle
Step
Temperature
fCg
Duration
f
min
g
1
K
40
30
2
J
85
30
Temperature for
LEM2520
Number of cycle
100 cycle
Recovery
At least 1 hr of recovery the stan-
dard condition after the removal
from test chamber, followed by
measurement within 2 hrs.
LB
Y
LBC
Y
CB
Y
CBC
Y
CBL
Y
LBH
K
40
VJ
85
C
, miantain times 30min. ,100 cycle
Recovery
At least 1 hr of recovery under
the standard condition after the
test, followed by the measure-
ment within 2 hrs.
Temperature
60
M
2
C
Humidity
90
V
95
L
RH
Duration
1000 hrs
Recovery
At least 1 hr of recovery the stan-
dard condition after the removal
from test chamber, followed by
measurement within 2 hrs.
LEM2520
LBH1608
LB2518
LB2016
LB2012
LB1608
LBC2518
LBC2016
LBC2012
CB2518
CB2016
CB2012
CBC3225
CBC2518
CBC2016
CBC2012
CBL2012
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