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參數資料
| 型號： | Am29F004B-B-70JI |
| 廠商： | Advanced Micro Devices, Inc. |
| 英文描述： | 4 Megabit (512 K x 8-Bit) CMOS 5.0 Volt-only Boot Sector Flash Memory |
| 中文描述： | 4兆位（512畝× 8位）的CMOS 5.0伏，只引導扇區(qū)閃存 |
| 文件頁數： | 25/37頁 |
| 文件大?。?/td> | 993K |
| 代理商： | AM29F004B-B-70JI |
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Am29F004B
23
A D V A N C E I N F O R M A T I O N
TEST CONDITIONS
Table 7. Test Specifications
KEY TO SWITCHING WAVEFORMS
2.7 k
Ω
C
L
6.2 k
Ω
5.0 V
Device
Under
Test
Figure 9. Test Setup
Note:
Diodes are IN3064 or equivalent
Test Condition
70, 90, 120
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, C
L
(including jig capacitance)
100
pF
Input Rise and Fall Times
20
ns
Input Pulse Levels
0.45–2.4
V
Input timing measurement
reference levels
0.8, 2.0
V
Output timing measurement
reference levels
0.8, 2.0
V
WAVEFORM
INPUTS
OUTPUTS
Steady
Changing from H to L
Changing from L to H
Don’t Care, Any Change Permitted
Changing, State Unknown
Does Not Apply
Center Line is High Impedance State (High Z)
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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| AM29F010 | 制造商:Panasonic Industrial Company 功能描述:IC |
| AM29F010-120DGC1 | 制造商:Spansion 功能描述:1M FLASH KNOWN GOOD DIE (COMMERCIAL TEMP) - Gel-pak, waffle pack, wafer, diced wafer on film |
| AM29F010-120DGE1 | 制造商:Spansion 功能描述:1M FLASH KNOWN GOOD DIE (EXTEND TEMP) - Gel-pak, waffle pack, wafer, diced wafer on film |
| AM29F010-120DGI1 | 制造商:Spansion 功能描述:1M FLASH KNOWN GOOD DIE (INDUSTRIAL TEMP) - Gel-pak, waffle pack, wafer, diced wafer on film |
| AM29F010-120JC | 制造商:Advanced Micro Devices 功能描述: 制造商:Advanced Micro Devices 功能描述:NOR Flash, 128K x 8, 32 Pin, Plastic, PLCC 制造商:Analog Devices 功能描述:NOR Flash, 128K x 8, 32 Pin, Plastic, PLCC |
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