參數(shù)資料
型號： AD5379ABCZ
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 21/29頁
文件大小： 0K
描述： IC DAC 14BIT 40CHAN 108CSPBGA
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Data Converter Fundamentals
DAC Architectures
標準包裝： 1
設(shè)置時間： 20µs
位數(shù)： 14
數(shù)據(jù)接口： 串行，并聯(lián)
轉(zhuǎn)換器數(shù)目： 40
電壓電源： 模擬和數(shù)字，雙 ±
功率耗散（最大）： 850mW
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 108-BGA，CSPBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 108-CSPBGA（13x13）
包裝： 托盤
輸出數(shù)目和類型： 40 電壓，雙極
采樣率（每秒）： 50k
配用： EVAL-AD5379EBZ-ND - BOARD EVALUATION FOR AD5379
AD5379
Rev. B | Page 27 of 28
TYPICAL APPLICATION CIRCUIT
The high channel count of the AD5379 makes it well-suited to
applications requiring high levels of integration such as optical
and automatic test equipment (ATE) systems. Figure 22 shows
the AD5379 as it would be used in an ATE system. Shown here
is one pin of a typical logic tester. It is apparent that a number of
discrete levels are required for the pin driver, active load circuit,
parametric measurement unit, comparators, and clamps.
In addition to the DAC levels required in the ATE system as
shown in Figure 22, drivers, loads, comparators, and parametric
measurement unit functions are also required. Analog Devices
provides solutions for all these functions.
DAC
CENTRAL PMU
DRIVEN SHIELD
VCH
VTH
VTL
IOL
VCOM
IOH
VCL
VH
VL
DRIVER
COMP
ACTIVE LOAD
FORMATTER DE-SKEW
COMPARE
MEMORY
TIMING DATA
MEMORY
TIMING
GENERATOR
DLL LOGIC
FORMATTER DE-SKEW
VTERM
PPMU
RELAYS
GND SENSE
DEVICE POWER
SUPPLY
50
Ω COAX
DUT
GUARD AMP
DAC
ADC
DAC
ADC
DAC
ADC
03165-022
Figure 22. Typical Application Circuit for Logic Tester
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PDF描述
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