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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | X9318WS8Z |
| 廠商： | Intersil |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 5/10頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC POT DGTL 10K OHM 8-SOIC |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 100 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 100 |
| 電阻（歐姆）： | 10k |
| 電路數(shù)： | 1 |
| 溫度系數(shù)： | 標(biāo)準(zhǔn)值 ±300 ppm/°C |
| 存儲(chǔ)器類型： | 非易失 |
| 接口： | 3 線串行（芯片選擇，遞增，增/減） |
| 電源電壓： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 8-SOIC |
| 包裝： | 管件 |
| 產(chǎn)品目錄頁(yè)面： | 1237 (CN2011-ZH PDF) |
4
FN8184.1
September 14, 2005
D.C. OPERATING CHARACTERISTICS
(VCC = 5V ± 10%, TA = Full Operating Temperature Range unless otherwise stated)
ENDURANCE AND DATA RETENTION
(VCC = 5V ± 10%, TA = Full Operating Temperature Range)
Notes: (1) Absolute linearity is utilized to determine actual wiper voltage versus expected voltage = [V(RW(n)(actual)) - V(RW(n)(expected))]/MI
V(RW(n)(expected)) = n(V(RH) - V(RL))/99 + V(RL), with n from 0 to 99.
(2) Relative linearity is a measure of the error in step size between taps = [V(RW(n+1)) - (V(RW(n)) - MI)]/MI
(3) 1 Ml = Minimum Increment = [V(RH) - V(RL)]/99.
(4) Typical values are for TA = 25°C and nominal supply voltage.
(5) This parameter is not 100% tested.
(6) Ratiometric temperature coefficient = (V(RW)T1(n) - V(RW)T2(n))/[V(RW)T1(n)(T1 - T2) x 10
6], with T1 & T2 being 2 temperatures, and n
from 0 to 99.
(7) Measured with wiper at tap position 31, RL grounded, using test circuit.
A.C. CONDITIONS OF TEST
Symbol
Parameter
Limits
Unit
Test Conditions
Min.
Typ.(4)
Max.
ICC
VCC active current (Increment)
1
3
mA
CS = VIL, U/D = VIL or VIH and
INC = 0.4V/2.4V @ min. tCYC
RL, RH, RW not connected
ISB
Standby supply current
300
1000
A
CS
≥ 2.4V, U/D and INC =0.4V
RL, RH, RW not connected
ILI
CS, INC, U/D input leakage current
-10
+10
A
VIN = VSS to VCC
VIH
CS, INC, U/D input HIGH voltage
2
VCC + 1
V
VIL
CS, INC, U/D input LOW voltage
-1
0.8
V
CIN(5)
CS, INC, U/D input capacitance
10
pF
VCC = 5V, VIN = VSS, TA = 25°C,
f = 1MHz
Parameter
Min.
Unit
Minimum endurance
100,000
Data changes per bit
Data retention
100
Years
Test Circuit
Equivalent Circuit
Force
Current
Test Point
RW
CH
CL
RW
10pF
RTOTAL
CW
25pF
RH
RL
Input pulse levels
0.8V to 2.0V
Input rise and fall times
10ns
Input reference levels
1.4V
X9318
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