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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | TE28F800CVT90 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 8-MBIT (512K X 16, 1024K X 8) SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
| 中文描述： | 8兆位（為512k × 16，1024K × 8）SmartVoltage啟動(dòng)塊閃存系列 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 33/55頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 638K |
| 代理商： | TE28F800CVT90 |
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E
2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FAMILY
33
SEE NEW DESIGN RECOMMENDATIONS
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
1.5
3.0
0.0
1.5
NOTE:
AC test inputs are driven at 3.0 V for a logic
“1” and 0.0 V for a logic “0.” Input timing begins, and output timing ends, at 1.5 V.
Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
0530_12
Figure 12. 3.3 V Inputs and Measurement Points
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
2.0
0.8
0.8
2.0
2.4
0.45
NOTE:
AC test inputs are driven at V
(2.4 V
) for a logic “1” and V
(0.45 V
) for a logic “0.” Input timing begins at V
IH
(2.0 V
TTL
)
and V
IL
(0.8 V
TTL
) . Output timing ends at V
IH
and V
IL
. Input rise and fall times (10% to 90%) <10 ns.
0530_13
Figure 13. 5 V Inputs and Measurement Points
C
L
OUT
V
CC
DEVICE
UNDER
TEST
R
1
R
2
0530_14
NOTE:
See table for component values.
Figure 14. Test Configuration
Test Configuration Component Values
Test Configuration
C
L
(pF)
R
1
(
) R
2
(
)
3.3 V Standard Test
50
990
770
5 V Standard Test
100
580
390
5 V High-Speed Test
30
580
390
NOTE:
C
L
includes jig capacitance.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TE28F800B3T90 | SMART 3 ADVANCED BOOT BLOCK 4-, 8-, 16-, 32-MBIT FLASH MEMORY FAMILY |
| TE28F200CV-B80 | 2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
| TE28F800CV-B80 | 2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
| TE28F200CVB80 | 2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
| TE28F200BVB80 | 2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| TE28F800CV-T90 | 制造商:Intel 功能描述:NOR Flash, 512K x 16, 48 Pin, Plastic, TSSOP |
| TE28F800F3B95 | 制造商:Intel 功能描述: |
| TE2931ST-5D WAF | 制造商:ON Semiconductor 功能描述: |
| TE2Q0TRPJ1000G | 制造商:Vishay Dale 功能描述:IND FLTR WW 100 UH 2% TRD - Bulk |
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