參數資料
型號: SN74ABT8952DWE4
廠商: Texas Instruments
文件頁數: 19/31頁
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描述: IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC
標準包裝: 20
系列: 74ABT
邏輯類型: 掃描測試設備,帶寄存總線收發(fā)器
電源電壓: 4.5 V ~ 5.5 V
位數: 8
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 28-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
供應商設備封裝: 28-SOIC
包裝: 管件
TAPE AND REEL INFORMATION
*All dimensions are nominal
Device
Package
Type
Package
Drawing
Pins
SPQ
Reel
Diameter
(mm)
Reel
Width
W1 (mm)
A0
(mm)
B0
(mm)
K0
(mm)
P1
(mm)
W
(mm)
Pin1
Quadrant
SN74ABT8952DWR
SOIC
DW
28
1000
330.0
32.4
11.35
18.67
3.1
16.0
32.0
Q1
PACKAGE MATERIALS INFORMATION
www.ti.com
14-Jul-2012
Pack Materials-Page 1
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PDF描述
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參數描述
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