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參數(shù)資料
| 型號： | S5T8610X01-Q0R0 |
| 廠商： | SAMSUNG SEMICONDUCTOR CO. LTD. |
| 元件分類： | Codec |
| 英文描述： | DIGITAL CLP MODEM WITH ADPCM CODEC |
| 中文描述： | 數(shù)字電調(diào)制解調(diào)器帶ADPCM編解碼器 |
| 文件頁數(shù)： | 4/27頁 |
| 文件大?。?/td> | 252K |
| 代理商： | S5T8610X01-Q0R0 |
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S5T8610
DIGITAL CLP MODEM WITH ADPCM CODEC
4
PRELIMINARY
PIN DESCRIPTION
Pin No
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
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28
29
30
31
Symbol
VREF
AGND
VDDA_ADC
VSSA_ADC
RXI
VRT
VRB
TXO
VDDA_DAC
VSSA_DAC
VDDD_DAC
VSSD_DAC
VDDD1
TCLKDR
TSHFTDR
TUPDDR
TSELDR0
TSELDR1
TIDR
TODR
TINT
CKOUT
VDDD_OSC
OSCI
OSCO
VSSD_OSC
TEST0
TEST1
TEST2
TEST3
SYNCH/BER/JAM
I/O
AI
AI
AP
AG
AI
AI
AI
AO
AP
AG
DP
DG
DP
DI
DI
DI
DI
DI
DI
DO
DO
DO
DP
I
O
DG
DI
DI
DI
DI
DO
Description
Reference top (3.3V) for ADC
Reference bottom (0V) for ADC
Analog power (3.3V) for ADC
Analog ground (0V) for ADC
Analog input (input range: 0V to 3.3V) for ADC
Voltage reference top (2.0V) for DAC
Voltage reference bottom (0V) for DAC
Analog voltage output for DAC
Analog power (3.3V) for DAC
Analog ground (0V) for DAC
Digital power (3.3V) for DAC
Digital ground (0V) for DAC
Digital power (3.3V) for DSP core
Test clock
Test scan shift enable
Test scan update
Test scan register selection 0
Test scan register selection 1
Test scan input
Test scan output
Interrupt check
Test clock output
Digital power (3.3V) for oscillator block
Oscillator input
Oscillator output
Digital ground (0V) for oscillator block
Test
Test
Test
Test
Initial synchronization / BER (bit error rate) / jamming
detection output
Digital ground (0V)
32
VSSD1
DG
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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