參數(shù)資料
型號: OP293FSZ-REEL
廠商: Analog Devices Inc
文件頁數(shù): 8/16頁
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描述: IC OPAMP GP 35KHZ DUAL 8SOIC
設(shè)計(jì)資源: 4 mA-to-20 mA Loop-Powered Temperature Monitor Using ADuC7060/1 (CN0145)
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 2,500
放大器類型: 通用
電路數(shù): 2
輸出類型: 滿擺幅
轉(zhuǎn)換速率: 0.015 V/µs
增益帶寬積: 35kHz
電流 - 輸入偏壓: 20nA
電壓 - 輸入偏移: 250µV
電流 - 電源: 30µA
電流 - 輸出 / 通道: 25mA
電壓 - 電源,單路/雙路(±): 1.7 V ~ 36 V,±0.85 V ~ 18 V
工作溫度: -40°C ~ 125°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬)
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 8-SOIC
包裝: 帶卷 (TR)
REV. B
–16–
C00295–0–1/02(B)
PRINTED
IN
U.S.A.
OP193/OP293/OP493
OUTLINE DIMENSIONS
Dimensions shown in inches and (mm).
8-Lead SO
(S Suffix)
8-Lead Epoxy DIP
(P Suffix)
0.0098 (0.25)
0.0075 (0.19)
0.0500 (1.27)
0.0160 (0.41)
8
°
0
°
0.0196 (0.50)
0.0099 (0.25)
x 45
°
PIN 1
0.1574 (4.00)
0.1497 (3.80)
0.2440 (6.20)
0.2284 (5.80)
4
5
1
8
0.0192 (0.49)
0.0138 (0.35)
0.0500
(1.27)
BSC
0.0688 (1.75)
0.0532 (1.35)
0.0098 (0.25)
0.0040 (0.10)
0.1968 (5.00)
0.1890 (4.80)
PIN 1
0.280 (7.11)
0.240 (6.10)
4
5
8
1
SEATING
PLANE
0.060 (1.52)
0.015 (0.38)
0.130
(3.30)
MIN
0.210
(5.33)
MAX
0.160 (4.06)
0.115 (2.93)
0.430 (10.92)
0.348 (8.84)
0.022 (0.558)
0.014 (0.356)
0.070 (1.77)
0.045 (1.15)
0.100
(2.54)
BSC
0.325 (8.25)
0.300 (7.62)
0.015 (0.381)
0.008 (0.204)
0.195 (4.95)
0.115 (2.93)
16-Lead Wide Body SOL
(S Suffix)
PIN 1
0.2992 (7.60)
0.2914 (7.40)
0.4193 (10.65)
0.3937 (10.00)
1
16
9
8
0.0192 (0.49)
0.0138 (0.35)
0.0500 (1.27)
BSC
0.1043 (2.65)
0.0926 (2.35)
0.4133 (10.50)
0.3977 (10.00)
0.0118 (0.30)
0.0040 (0.10)
0.0125 (0.32)
0.0091 (0.23)
0.0500 (1.27)
0.0157 (0.40)
8
°
0
°
0.0291 (0.74)
0.0098 (0.25)
x 45
°
14-Lead Epoxy DIP
(P Suffix)
0.325 (8.25)
0.300 (7.62)
0.015 (0.381)
0.008 (0.204)
0.195 (4.95)
0.115 (2.93)
0.210
(5.33)
MAX
0.160 (4.06)
0.115 (2.93)
0.795 (20.19)
0.725 (18.42)
0.022 (0.558)
0.014 (0.356)
0.100
(2.54)
BSC
0.070 (1.77)
0.045 (1.15)
SEATING
PLANE
0.060 (1.52)
0.015 (0.38)
0.130
(3.30)
MIN
PIN 1
0.280 (7.11)
0.240 (6.10)
7
8
14
1
Revision History
Location
Page
Data Sheet changed from REV. A to REV. B.
Deletion of WAFER TEST LIMITS Table . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Deletion of DICE CHARACTERISTICS Images . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
Edits to ORDERING GUIDE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
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