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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | NLAST4051QSR |
| 廠商： | ON Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 5/12頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC MUX/DEMUX 1X8 16QSOP |
| 產(chǎn)品變化通告： | Product Obsolescence 20/Sept/2004 |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 功能： | 多路復(fù)用器/多路分解器 |
| 電路： | 1 x 1:8 |
| 導(dǎo)通狀態(tài)電阻： | 33 歐姆 |
| 電壓電源： | 單/雙電源 |
| 電壓 - 電源，單路/雙路(±)： | 3 V ~ 5 V，±3 V |
| 電流 - 電源： | 40µA |
| 工作溫度： | -55°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 16-SSOP（0.154"，3.90mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 16-QSOP |
| 包裝： | 剪切帶 (CT) |
| 其它名稱： | NLAST4051QSROSCT |
Figure 2. Logic Diagram
NO4
NO7
Inhibit
NO6
NO3
ADDA
LOGIC
ADDB
ADDC
NO5
NO2
NO1
NO0
COM
NLAST4051
http://onsemi.com
2
TRUTH TABLE
Inhibit
Address
ON SWITCHES*
C
B
A
1
X
don’t care
X
don’t care
X
don’t care
All switches open
0
COMNO0
0
1
COMNO1
0
1
0
COMNO2
0
1
COMNO3
0
1
0
COMNO4
0
1
0
1
COMNO5
0
1
0
COMNO6
0
1
COMNO7
*NO and COM pins are identical and interchangeable. Either may be considered
an input or output; signals pass equally well in either direction.
MAXIMUM RATINGS
Symbol
Parameter
Value
Unit
VEE
Negative DC Supply Voltage
(Referenced to GND)
7.0 to
)0.5
V
VCC
Positive DC Supply Voltage (Note 1)
(Referenced to GND)
(Referenced to VEE)
0.5 to
)7.0
0.5 to
)7.0
V
VIS
Analog Input Voltage
VEE 0.5 to VCC )0.5
V
VIN
Digital Input Voltage
(Referenced to GND)
0.5 to 7.0
V
I
DC Current, Into or Out of Any Pin
$50
mA
TSTG
Storage Temperature Range
65 to
)150
°C
TL
Lead Temperature, 1 mm from Case for 10 Seconds
260
°C
TJ
Junction Temperature under Bias
)150
°C
qJA
Thermal Resistance
SOIC
TSSOP
QSOP
143
164
°C/W
PD
Power Dissipation in Still Air
SOIC
TSSOP
QSOP
500
450
mW
MSL
Moisture Sensitivity
Level 1
FR
Flammability Rating
Oxygen Index: 30% 35%
UL 94 V0 @ 0.125 in
VESD
ESD Withstand Voltage
Human Body Model (Note 2)
Machine Model (Note 3)
Charged Device Model (Note 4)
u2000
u200
u1000
V
ILATCHUP
Latchup Performance
$300
mA
Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum Ratings are stress ratings only. Functional operation above the
Recommended Operating Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the Recommended Operating Conditions may affect
device reliability.
1. The absolute value of VCC $|VEE| ≤ 7.0.
2. Tested to EIA/JESD22A114A.
3. Tested to EIA/JESD22A115A.
4. Tested to JESD22C101A.
5. Tested to EIA/JESD78.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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