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參數(shù)資料
| 型號： | MPC9352ACR2 |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁數(shù)： | 5/16頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC CLK GEN ZD 1:11 32-LQFP |
| 標準包裝： | 2,000 |
| 類型： | PLL 時鐘發(fā)生器 |
| PLL： | 帶旁路 |
| 輸入： | LVCMOS |
| 輸出： | LVCMOS |
| 電路數(shù)： | 1 |
| 比率 - 輸入:輸出： | 1:11 |
| 差分 - 輸入:輸出： | 無/無 |
| 頻率 - 最大： | 200MHz |
| 除法器/乘法器： | 是/是 |
| 電源電壓： | 2.375 V ~ 3.465 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 32-LQFP |
| 供應商設備封裝： | 32-TQFP（7x7） |
| 包裝： | 帶卷 (TR) |
MPC9352 REVISION 8 JANUARY 31, 2013
13
2013 Integrated Device Technology, Inc.
MPC9353 Data Sheet
3.3V/2.5V 1:11 LVCMOS ZERO DELAY CLOCK GENERATOR
Figure 15. Propagation Delay (t(), static phase
offset) Test Reference
Figure 16. Output Duty Cycle (DC)
Figure 14. Output-to-Output Skew tSK(O)
The pin-to-pin skew is defined as the worst case difference
in propagation delay between any similar delay path within a
single device.
VCC
VCC 2
GND
VCC
VCC 2
GND
tSK(O)
VCC
VCC 2
GND
VCC
VCC 2
GND
t()
CCLK
FB_IN
The time from the PLL controlled edge to the non controlled
edge, divided by the time between PLL controlled edges,
expressed as a percentage.
VCC
VCC 2
GND
tP
T0
DC = tP/T0 x 100%
Figure 18. Cycle-to-Cycle Jitter
Figure 17. I/O Jitter
Figure 20. Output Transition Time Test Reference
tF
tR
VCC=3.3 V
VCC=2.5 V
2.4
1.8 V
0.55
0.6 V
TJIT() = |T0–T1mean|
CCLK
FB_IN
The deviation in t0 for a controlled edge with respect to a t0 mean
in a random sample of cycles.
The variation in cycle time of a signal between adjacent cycles,
over a random sample of adjacent cycle pairs.
TN
TJIT(CC) = |TN–TN+1|
TN+1
The deviation in cycle time of a signal with respect to the ideal
period over a random sample of cycles.
TJIT(PER) = |TN–1/f0|
T0
Figure 19. Period Jitter
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PDF描述 |
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相關代理商/技術參數(shù) |
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