參數(shù)資料
型號： M27C512-15B3X
廠商： STMICROELECTRONICS
元件分類： PROM
英文描述： 64K X 8 OTPROM, 150 ns, PDIP28
封裝： 0.600 INCH, PLASTIC, DIP-28
文件頁數(shù)： 14/18頁
文件大小： 115K
代理商： M27C512-15B3X
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M27C512
Table 7. Read Mode DC Characteristics (1)
(TA = 0 to 70 °C, –40 to 85 °C or –40 to 125 °C; VCC =5V ± 5% or 5V ± 10%; VPP =VCC)
Note: 1. VCC must be applied simultaneously with or before VPP and removed simultaneously or after VPP.
2. Maximum DC voltage on Output is VCC +0.5V.
Table 8A. Read Mode AC Characteristics (1)
(TA = 0 to 70 °C, –40 to 85 °C or –40 to 125 °C; VCC =5V ± 5% or 5V ± 10%; VPP =VCC)
Note: 1. VCC must be applied simultaneously with or before VPP and removed simultaneously or after VPP.
2. Sampled only, not 100% tested.
3. Speed obtained with High Speed AC measurement conditions.
Symbol
Parameter
Test Condi tion
Min
Max
Unit
ILI
Input Leakage Current
0V
≤ VIN ≤ VCC
±10
A
ILO
Output Leakage Current
0V
≤ VOUT ≤ VCC
±10
A
ICC
Supply Current
E=VIL,G= VIL,
IOUT = 0mA, f = 5MHz
30
mA
ICC1
Supply Current (Standby) TTL
E=VIH
1mA
ICC2
Supply Current (Standby) CMOS
E> VCC – 0.2V
100
A
IPP
Program Current
VPP =VCC
10
A
VIL
Input Low Voltage
–0.3
0.8
V
VIH
(2)
Input High Voltage
2
VCC +1
V
VOL
Output Low Voltage
IOL = 2.1mA
0.4
V
VOH
Output High Voltage TTL
IOH = –1mA
3.6
V
Output High Voltage CMOS
IOH = –100AVCC – 0.7V
V
Symbol
Alt
Parameter
Test Condi tion
M27C512
Unit
-45 (3)
-60
-70
-80
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Min
Max
tAVQV
tACC
Address Valid to
Output Valid
E= VIL,G= VIL
45
60
70
80
ns
tELQV
tCE
Chip Enable Low to
Output Valid
G= VIL
45
60
70
80
ns
tGLQV
tOE
Output Enable Low
to Output Valid
E= VIL
25
30
35
40
ns
tEHQZ
(2)
tDF
Chip Enable High to
Output Hi-Z
G= VIL
0
25
0
25
0
30
0
30
ns
tGHQZ
(2)
tDF
Output Enable High
to Output Hi-Z
E= VIL
0
25
0
25
0
30
0
30
ns
tAXQX
tOH
Address Transition to
Output Transition
E= VIL,G= VIL
00
ns
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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參數(shù)描述
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M27C51215F1 制造商:STMicroelectronics 功能描述:
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