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參數(shù)資料
| 型號： | LFEC15E-3F484C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 127/163頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 10.2KLUTS 288I/O 484-BGA |
| 標準包裝： | 60 |
| 系列： | EC |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 15400 |
| RAM 位總計： | 358400 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 352 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 484-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 484-FPBGA（23x23） |
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3-30
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-21 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 3-6.
Figure 3-21. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 3-6. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R1
CL
Timing Ref.
VT
LVTTL and other LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
0pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
—
LVCMOS 2.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.8 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.2 = VCCIO/2
—
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> H)
188
0pF
VCCIO/2
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> L)
VCCIO/2
VOH
LVCMOS 2.5 I/O (H -> Z)
VOH - 0.15
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (L -> Z)
VOL + 0.15
VOH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
DUT
VT
R1
CL*
Test Point
*CL Includes Test Fixture and Probe Capacitance
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
|---|---|
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