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參數(shù)資料
| 型號： | LFEC10E-3QN208C |
| 廠商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件頁數(shù)： | 92/163頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 10.2KLUTS 147I/O 208QFP |
| 標準包裝： | 24 |
| 系列： | EC |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 10200 |
| RAM 位總計： | 282624 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 147 |
| 電源電壓： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 208-BFQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 208-PQFP（28x28） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁當前第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁
2-31
Architecture
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Table 2-14. Supported Output Standards
Hot Socketing
The LatticeECP/EC devices have been carefully designed to ensure predictable behavior during power-up and
power-down. Power supplies can be sequenced in any order. During power up and power-down sequences, the
I/Os remain in tristate until the power supply voltage is high enough to ensure reliable operation. In addition,
leakage into I/O pins is controlled within specified limits, this allows for easy integration with the rest of the sys-
tem. These capabilities make the LatticeECP/EC ideal for many multiple power supply and hot-swap applica-
tions.
Configuration and Testing
The following section describes the configuration and testing features of the LatticeECP/EC devices.
IEEE 1149.1-Compliant Boundary Scan Testability
All LatticeECP/EC devices have boundary scan cells that are accessed through an IEEE 1149.1 compliant test
access port (TAP). This allows functional testing of the circuit board, on which the device is mounted, through a
serial scan path that can access all critical logic nodes. Internal registers are linked internally, allowing test data to
Output Standard
Drive
VCCIO (Nom.)
Single-ended Interfaces
LVTTL
4mA, 8mA, 12mA, 16mA, 20mA
3.3
LVCMOS33
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
3.3
LVCMOS25
4mA, 8mA, 12mA, 16mA, 20mA
2.5
LVCMOS18
4mA, 8mA, 12mA, 16mA
1.8
LVCMOS15
4mA, 8mA
1.5
LVCMOS12
2mA, 6mA
1.2
LVCMOS33, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
—
LVCMOS25, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA, 20mA
—
LVCMOS18, Open Drain
4mA, 8mA, 12mA 16mA
—
LVCMOS15, Open Drain
4mA, 8mA
—
LVCMOS12, Open Drain
2mA, 6mA
—
PCI33
N/A
3.3
HSTL18 Class I, II, III
N/A
1.8
HSTL15 Class I, III
N/A
1.5
SSTL3 Class I, II
N/A
3.3
SSTL2 Class I, II
N/A
2.5
SSTL18 Class I
N/A
1.8
Differential Interfaces
Differential SSTL3, Class I, II
N/A
3.3
Differential SSTL2, Class I, II
N/A
2.5
Differential SSTL18, Class I
N/A
1.8
Differential HSTL18, Class I, II, III
N/A
1.8
Differential HSTL15, Class I, III
N/A
1.5
LVDS
N/A
2.5
BLVDS
1
N/A
2.5
LVPECL
1
N/A
3.3
RSDS
1
N/A
2.5
1. Emulated with external resistors.
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