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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | ICS501GLF |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 8/9頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC PLL CLK MULTIPLIER 8-MSOP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 96 |
| 系列： | LOCO™ |
| 類(lèi)型： | 時(shí)鐘發(fā)生器 |
| PLL： | 是 |
| 輸入： | 時(shí)鐘，晶體 |
| 輸出： | CMOS |
| 電路數(shù)： | 1 |
| 比率 - 輸入:輸出： | 1:1 |
| 差分 - 輸入:輸出： | 無(wú)/無(wú) |
| 頻率 - 最大： | 160MHz |
| 除法器/乘法器： | 無(wú)/是 |
| 電源電壓： | 3 V ~ 5.25 V |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 安裝類(lèi)型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 8-TSSOP，8-MSOP（0.118"，3.00mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 8-TSSOP |
| 包裝： | 管件 |
| 其它名稱(chēng)： | 501GLF |
ICS501
LOCO PLL CLOCK MULTIPLIER
CLOCK MULTIPLIER
IDT / ICS LOCO PLL CLOCK MULTIPLIER
8
ICS501
REV R 051310
Ordering Information
"LF" suffix to the part number are the Pb-Free configuration and are RoHS compliant.
While the information presented herein has been checked for both accuracy and reliability, Integrated Device Technology (IDT) assumes no responsibility
for either its use or for the infringement of any patents or other rights of third parties, which would result from its use. No other circuits, patents, or licenses
are implied. This product is intended for use in normal commercial applications. Any other applications such as those requiring extended temperature range,
high reliability, or other extraordinary environmental requirements are not recommended without additional processing by IDT. IDT reserves the right to
change any circuitry or specifications without notice. IDT does not authorize or warrant any IDT product for use in life support devices or critical medical
instruments.
Part / Order Number
Marking
Shipping Packaging
Package
Temperature
501MLF
Tubes
8-pin SOIC
0 to +70
° C
501MLFT
501MLF
Tape and Reel
8-pin SOIC
0 to +70
° C
501MILF
Tubes
8-pin SOIC
-40 to +85
° C
501MILFT
501MILF
Tape and Reel
8-pin SOIC
-40 to +85
° C
501GLF
501GL
Tubes
8-pin MSOP
0 to +70
° C
501GLFT
501GL
Tape and Reel
8-pin MSOP
0 to +70
° C
501GILF
1GIL
Tubes
8-pin MSOP
-40 to +85
° C
501GILFT
1GIL
Tape and Reel
8-pin MSOP
-40 to +85
° C
501-DWF
-
Die on uncut, probed wafers
0 to +70
° C
501-DPK
-
Tested die in waffle pack
0 to +70
° C
501E-DPK
-
Tested die in waffle pack
0 to +70
° C
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